Article

1 - DIFFUSION DE LA LUMIÈRE PAR UNE SURFACE FAIBLEMENT RUGUEUSE

2 - CAS DE LA DIFFUSION DE VOLUME

3 - MESURES ET APPLICATIONS DE LA DIFFUSION : ANALYSE MULTIÉCHELLE

4 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : AF3458 v1

Diffusion de la lumière par les surfaces et les volumes

Auteur(s) : Claude AMRA, Carole DEUMIÉ

Date de publication : 10 juil. 2009

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RÉSUMÉ

L’objet de cet article est de fournir des outils théoriques et expérimentaux pour apprendre à utiliser les phénomènes de diffusion lumineuse, peu enseignés à ce jour. Pourtant, la diffusion lumineuse demeure un outil clé, et régit un grand nombre de phénomènes d’optique, dont l’imagerie et la vision. Est proposée une approche perturbatrice caractéristique de milieux aléatoires (surfaces faiblement rugueuses et volumes), responsables d’une diffusion faible devant le flux incident. Les différents cas de diffusion de la lumière sont analysés (paramètres, amplitude de l’onde et intensité) et illustrés d’exemples numériques. Puis les mesures et les applications de la diffusion de la lumière sont abordées à travers une analyse multiéchelle.

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Auteur(s)

  • Claude AMRA : Directeur de l'Institut Fresnel - Directeur de recherche au CNRS

  • Carole DEUMIÉ : Professeur à l'École centrale de Marseille

INTRODUCTION

Si les lois de Descartes (n sin i = constante) sont couramment enseignées dès le premier apprentissage de l'optique, elles ne s'appliquent qu'à un nombre limité de surfaces dites à faible rugosité. À l'inverse, les phénomènes de diffusion lumineuse, qui régissent une grande majorité de phénomènes dont l'imagerie et la vision, sont encore peu enseignés. L'objet de cet article consiste à conférer, aux ingénieurs et chercheurs non spécialistes, des outils théoriques et expérimentaux pour appréhender et utiliser avec pragmatisme ces phénomènes.

On détaillera dans ce document une approche perturbative caractéristique de milieux aléatoires (surfaces et volumes) responsables d'une diffusion faible devant le flux incident ; cette approche présente de multiples intérêts :

  • la modélisation est simple à mettre en œuvre, avec des temps de calcul réduits qui autorisent un traitement tridimensionnel et spectral ;

  • le cas des volumes diffusants se traite de façon similaire à celui des surfaces rugueuses ;

  • la généralisation aux structures planaires multicouches (filtres interférentiels et guides d'onde) est immédiate ;

  • d'un point de vue électromagnétique, le problème de la diffusion dans les systèmes multicouches est identique à celui des microcavités luminescentes ;

  • enfin, l'approche perturbative met en évidence des expressions analytiques fort utiles pour guider l'expérimentateur ou le théoricien vers de nouvelles applications ; une fois l'application identifiée, on peut avoir recours à des modèles rigoureux pour établir un domaine de validité et gagner en précision.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-af3458


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - COULON (G.) -   Imagerie de surface des polymères : microscopie à force atomique.  -  [AM 3 280] Base documentaire « Plastiques et Composites » (2000).

  • (2) - RIVOAL (J.-C.), FRETIGNY (C.) -   Microscopie à force atomique (AFM).  -  [R 1 394] Base documentaire « Mesures mécaniques et dimensionnelles» (2005).

  • (3) - CALLET (P.) -   Couleur et apparence visuelle. Le transparent et l'opaque.  -  [AF 3 252] Base documentaire « Physique-Chimie » (2004).

  • (4) - GAY (J.-M.) -   Structure de surface des solides.  -  [A 1 365] Base documentaire « Physique-Chimie » (1996).

  • (5) - VAN LABEKE (D.) -   Microscopie optique en champ proche.  -  [P 862] Base documentaire «Techniques d'Analyse » (1998).

  • (6) - RAPHET (B.) -   États...

1 Sources bibliographiques

Références du texte

AMRA (C.), GREZES-BESSET (C.), BRUEL (L.) - Comparison of surface and bulk scattering in optical multilayers. - Appl. Opt., 32, p. 5492 (1993).

AMRA (C.), APFEL (J.H.), PELLETIER (E.) - Role of interface correlation in light scattering by a multilayer. - Appl. Opt., 31, p. 3134 (1992).

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MAURE (S.), ALBRAND (G.), AMRA (C.) - Low-level scattering and localized defects. - Appl. Opt., 35 , p. 5573-5582 (1996).

DEUMIÉ (C.), GIOVANNINI (H.), AMRA (C.) - Ellipsometry of light scattering from multilayer coatings. - Appl. Opt., 35, p. 5600-5608 (1996).

GILBERT (O.), DEUMIÉ (C.), AMRA (C.) - Angle-resolved ellipsometry of scattering patterns from arbitrary surfaces and bulks. - Opt. Express, 13, p. 2403-2418...

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