Le microscope à force atomique métrologique : Un contexte favorable au développement de la nanométrologie | Techniques de l’Ingénieur

Article de référence | Réf : NM7050 v1

Un contexte favorable au développement de la nanométrologie
Le microscope à force atomique métrologique

Auteur(s) : Sébastien DUCOURTIEUX, Benoît POYET

Date de publication : 10 août 2013