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Caractérisation des nano-objetsArticle de référence | Réf : NM7050 v1
Auteur(s) : Sébastien DUCOURTIEUX, Benoît POYET
Date de publication : 10 août 2013
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3.1.1 Système international d’unités
La métrologie est la science des mesurages et de ses applications. Elle comprend aussi bien les aspects théoriques de sa description que les aspects pratiques de sa réalisation expérimentale, quels que soient l'incertitude de mesure et le domaine d'application , [R 115].
L’objectif est de déterminer le résultat de mesurage de la façon la plus précise possible et dans le cadre d’un référentiel connu et partagé par le plus grand nombre. Ce référentiel doit permettre d’exprimer l’ensemble des dimensions physiques qui décrivent ces phénomènes. Pour cela, à chaque dimension est associée une unité qui se définit par rapport à un objet ou un phénomène physique identifié. Cette unité est représentée expérimentalement afin d’avoir une référence de comparaison pour les autres mesures. Ainsi, l’unité est un élément de référence auquel peuvent se comparer des grandeurs de dimension analogue. Ce référentiel définit une base dans laquelle tous les phénomènes physiques sont descriptibles. Tout processus de mesurage est alors équivalent à une comparaison entre la grandeur inconnue (le mesurande) et l’une de ses composantes (une unité) dans le but d’exprimer quantitativement le mesurande par...
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NANOSCIENCES ET NANOTECHNOLOGIES
(1) - The Royal Society & The Royal Academy of Engineering - Nanoscience and nanotechnologies : opportunities and uncertainties - http://www.nanotec.org.uk/finalReport.htm (juillet 2004).
(2) - TODUA (P.-A.) - Metrology and standardization in nanotechnologies and the nanoindustry - Meas. Tech. Vol 51, N° 5, 462-469 (2008).
(3) - SCHRURS (F.), LISON (D.) - Focusing the research efforts - Nature Nanotechnology, vol. 7 (septembre 2012).
(4) - Nanometrology - Smart Materials Bulletin, vol. 4, 7-10 (avril 2002).
(5) - Bureau international des poids et mesures (BIPM) - Le Système international d’unités - 8e édition (2006).
(6) - * - Comptes Rendus de la 17e CGPM (1983), 97 (1984).
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