La protection des informations sensibles peut être mise à mal par des fuites électromagnétiques de systèmes électroniques traitant ces informations. La gestion de ce risque d’espionnage électromagnétique constitue le domaine TEMPEST, domaine de la protection des informations sensibles récupérables à distance par rayonnement électromagnétique ou conduction électrique. Cet article présente la possibilité d’interception par un individu hostile d’informations traitées par des appareils électroniques, la création et l’analyse des signaux parasites compromettants, leur caractérisation et leur réduction. Les points communs et les différences entre le domaine TEMPEST et le domaine CEM sont discutés.
Les cartes électroniques sont conçues avec une augmentation constante de niveau de complexité. Des effets sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM) et l’Intégrité du Signal (IS) sont constatés. Pour éviter ces conséquences indésirables, une méthodologie de simulation et de modélisation est nécessaire. Le présent article propose une méthode de simulation et modélisation en CEM conduite d’une carte électronique. Des modèles d’émission et de susceptibilité en CEM conduite sont considérés. Une étude marginale décrite en dernière section permet d’évaluer le niveau de risque de dysfonctionnement d’une carte électronique.
Cet article traite des mesures en compatibilité électromagnétique (CEM) effectuées dans le cadre d’essais de CEM réalisés sur des équipements électroniques. Ce domaine est en partie basé sur la physique de l’électromagnétisme. Pour autant, les champs électromagnétiques ne sont pas directement mesurables. La métrologie des champs électromagnétiques est donc une science complexe où l’on doit maîtriser la relation subtile entre champs et électroniques. Cet article tente de présenter les démarches et les bonnes pratiques pour réduire les incertitudes associées à la réalisation de ces essais.
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