3. Cartographie X
En balayant la surface de l'échantillon, soit électroniquement en spectrométrie EDS, soit mécaniquement en spectrométrie WDS, on peut obtenir une cartographie X (ou « image X ») représentative de la répartition de l'élément analysé. Cela est illustré par la figure 8 où l'on peut observer la répartition du niobium et du silicium dans une structure de solidification d'un acier allié. Cette information est généralement purement qualitative.
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