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Auteur(s)
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Ghislaine COULON : Professeur à l’Université des Sciences et Technologies de Lille - Docteur ès sciences
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Lire l’articleINTRODUCTION
La microscopie à force atomique fait partie de la famille des microscopies à sonde locale.
Un des buts essentiels des microscopies à champ proche est d’imager la surface d’un matériau dans l’espace direct réel avec une résolution spatiale allant de quelques dizaines de micromètres au dixième de nanomètre. Leur principe est simple : une sonde de petite taille est placée à proximité de la surface ; en balayant la sonde au-dessus de la surface, on obtient une image tridimensionnelle de celle-ci qui est le reflet de l’interaction sonde-surface.
Pour le microscope à force atomique, la sonde est une pointe métallique et l’image est obtenue par détection des forces d’interaction entre les atomes de la pointe et ceux de la surface.
Actuellement, il existe plusieurs types de microscopie à force atomique que l’on peut regrouper en trois familles :
-
la microscopie en mode contact : la pointe est placée au contact de la surface étudiée ;
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la microscopie en mode non-contact ou résonnant : la pointe est placée à quelques dizaines de nanomètres de la surface ;
-
la microscopie en mode intermittent : la pointe vient au contact de la surface de manière intermittente.
Dans cet article, nous étudierons l’application de ce type de microscopie à l’imagerie de surface de polymères.
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - BINNIG (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) - Atomic force microscope. - Phys. Rev. Lett., 12, p. 930-933 (1986).
-
(2) - MIZES (H.A.), LOH (K.J.), MILLER (R.J.P.), AHUJA (S.K.), GRABOWSKI (E.F.) - Submicron probe of polymer adhesion with atomic force microscopy. - Appl. Phys. Lett., 59, p. 2901-2903 (1991).
-
(3) - MAGONOV (S.N.) - Atomic force microscopy of polymers and related compounds. - Polymer Science, 38, p. 143-182 (1997).
-
(4) - WEISENHORN (A.L.), HANSMA (P.K.), ALBRECHT (T.R.), QUATE (C.F.) - Forces in atomic force microscopy in air and water. - Appl. Phys. Lett., 54, p. 2651-2653 (1989).
-
(5) - WITTMAN (J.-C.) - Orientation de matériaux organiques sur un substrat de Teflon. - Images de la Physique, CNRS Éd., p. 69-78 (1995).
-
(6) - COLLIN (B.), CHATENAY (D.), COULON (G.), AUSSERRE (D.), GALLOT (Y.) - Ordering of...
ANNEXES
1 À lire également dans nos bases
ERARD (L.) - Organisation de la métrologie en France. Le LNE. - [R 60] Traité Mesures : généralités (2006).
RIVOAL (J.-C.), FRETIGNY (C.) - Microscopie à force atomique (AFM). - [R 1 394] Traité Mesures mécaniques et dimensionnelles (2005).
ROBLIN (G.) - Microscopies optiques à balayage. - [R 6 714] Traité Mesures mécaniques et dimensionnelles (1999).
SALVAN (F.), THIBAUDAU (F.) - Microscopie à sonde locale. - [P 895] Analyse et caractérisation (1999).
VAN LABEKE (D.) - Microscopie optique en champ proche. - [P 862] Traité Techniques d'analyse (1998).
HAUT DE PAGE2.1 Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs (liste non exhaustive)
Advanced Technologies Center (ATC) http://www.nanoscopy.net
Elexience http://www.elexience.fr
Fondis Electronic http://www.fondiselectronic.com
Novascan http://www.novascan.com
Oxford...
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