Modélisation de l’émission
Notions de CEM des composants

INTRODUCTION

1 - TECHNOLOGIE DES COMPOSANTS

• 1.1 - Évolution vers les échelles nanométriques
  
• 1.2 - Évolution des technologies d’assemblage
  

2 - MÉTHODES DE MESURE NORMALISÉES

• 2.1 - Standards existants
  
• 2.2 - Extensions en fréquence

  • Quiz d'entraînement

3 - MODÉLISATION DE L’ÉMISSION

• 3.1 - Méthodologie d’analyse en mode conduit
• 3.2 - Méthodologie d’analyse en mode rayonné
  
• 3.3 - Cas des circuits multipuces

  • Quiz d'entraînement

4 - MODÉLISATION DE L’IMMUNITÉ DES COMPOSANTS

• 4.1 - Analyse d’immunité en mode conduit

  • Quiz d'entraînement
• 4.2 - Notions de in-band/out-band
• 4.3 - Approche linéaire par boîte noire
• 4.4 - Prise en compte des non-linéarités
• 4.5 - Point sur l’immunité à l’impulsion

  • Quiz d'entraînement

5 - CONCLUSION

6 - GLOSSAIRE

TEST DE VALIDATION