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Conception d'équipement en boîtier compositeArticle de référence | Réf : E1318 v2
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Auteur(s) : Frédéric LAFON
Date de publication : 10 mai 2016
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Nous détaillons dans cette partie les aspects modélisation de l’émission conduite, puis de l’émission rayonnée, au travers de deux cas d’étude. Nous proposons ensuite une extension de la méthode à des composants multipuces.
3.1 Méthodologie d’analyse en mode conduit
Les grands principes de la modélisation de l’émission (ICEM : Integrated Circuit Electromagnetic Model) sont décrits dans [E 2 475], et dans l’ouvrage de référence en anglais . Différentes approches sont aussi défendues dans le cadre de sessions spécifiques en conférences, ou de workshops spécialisés tels que EMC Compo. La figure 4 résume la méthodologie permettant de simuler l’émission parasite d’un composant d’une part, et de comparer le résultat avec des mesures à l’aide d’un circuit imprimé de test, où le composant sous test est isolé. La simulation comprend un modèle du cœur, en se focalisant sur les parties bruyantes, un modèle du boîtier et du dispositif de mesures. L’approche la plus courante consiste à effectuer une simulation temporelle, et à extraire les signaux au plus proche de la mesure, selon la même unité et la même représentation, afin de faciliter les comparaisons.
Le document IEC 62433-2 propose une structure générique de ce qu’est un modèle d’émission conduite, en s’appuyant sur deux briques principales décrites dans ...
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(1) - SICARD (E.), BOYER (A.) - IC-EMC User’s manual version 2.5. - – ISBN 978-2-87649-056-7 INSA de Toulouse, France (2011).
(2) - BOYER (A.), BEN DHIA (S.), SICARD (E.) - Characterization of the electromagnetic susceptibility of integrated circuits using a near field scan. - – Electronics Letters, the IEE society, vol. 43, Issue 1, p. 15-16 (2007).
(3) - LAFON (F.) - Développement de techniques et de méthodologies pour la prise en compte des contraintes CEM dans la conception d’équipements du domaine automobile. Étude de l’immunité du composant à l’équipement. - – Mémoire de thèse de l’INSA, Rennes (2011).
(4) - BEN DHIA (S.), RAMDANI (M.), SICARD (E.) - EMC of Ics : techniques for low emission and susceptibility. - – Springer, ISBN : 0-387-26600-3, USA (2006).
(5) - NDOYE (A.C.), SICARD (E.), LAFON (F.) - Méthodologie prédictive de l’immunité conduite d’un circuit intégré non linéaire. - –...
Compatibilité électromagnétique. Notions fondamentales.
La compatibilité électromagnétique dans les circuits intégrés
Essais CEM au niveau équipement.
INSA Toulouse, octobre 2011, IC-EMC (version pour Windows XP, 7), 135 Av. de Rangueil, 31077 Toulouse, France, logiciel en téléchargement libre sur http://www.ic-emc.org
Sigrity, Campbell, Californie, USA, Logiciel PowerSI, version 10, 2010 (version pour Windows XP), plus d’information sur http://www.sigrity.com
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Site de l’IEC (International Électrotechnical Commission) : http://www.iec.ch
On y trouve des spécifications des différentes normes modélisation composants (projet IEC 62433), méthodes de mesure en émission (IEC 61967) et immunité (IEC 62132). Voir détails dans la rubrique « Normes et standards » ci-après.
Site de l’ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors), version 2009 http://www.itrs.net
HAUT DE PAGE
Le workshop international EMC Compo a lieu tous les deux ans. Le workshop s’est tenu en novembre 2015...
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