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Auteur(s)
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Walid BEN AHMED : Ingénieur qualité, Renault
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Lire l’articleINTRODUCTION
Vous êtes en train de développer un nouveau système (produit/service) innovant : vous souhaitez anticiper les risques associés à son fonctionnement dès la phase de conception.
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Dans un nouveau produit, tout n’est pas forcément innovant : comment focaliser vos analyses de risque sur ce qui l'est vraiment ?
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Comment assurer l’exhaustivité de vos analyses afin de ne pas oublier un risque qui peut s’avérer critique ?
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Tous les risques n’ont pas la même criticité : comment les hiérarchiser afin de rendre plus efficace leur traitement ?
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Comment définir les actions de levée de risque ?
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Accueil > Ressources documentaires > Innovation > Management et ingénierie de l'innovation > Déployer l’innovation > Analyse des risques sur un produit innovant > Résolution par anticipation des MdD prévisionnels : sur les MdD potentiellement critiques (issus de l'AMDEC), réalisez des arbres de défaillance prévisionnels et définissez des actions de levée de risques
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3. Résolution par anticipation des MdD prévisionnels : sur les MdD potentiellement critiques (issus de l'AMDEC), réalisez des arbres de défaillance prévisionnels et définissez des actions de levée de risques
Un arbre de défaillance prévisionnel (Outil fic0415m2.xlsx ) est réalisé par anticipation pour identifier les causes d’un MdD potentiellement critique et donc éviter son occurrence dans la phase de développement ou dans la phase d’utilisation chez le client.
3.1 Identifiez les MdD potentiellement « critiques »
Utilisez le résultat de l’AMDEC pour identifier les MdD critiques. Il s’agit des modes ayant un IPR seuil (généralement le seuil est établi à 100).
HAUT DE PAGE3.2 Pour chaque MdD potentiellement critique, identifiez ses causes et ses sous-causes
Pour assurer la lisibilité de vos analyses, présenter la décomposition causes/sous-causes sous forme d’arborescence.
Afin d’assurer l’exhaustivité de votre recherche de causes, structurez votre analyse en utilisant l’un des outils suivants :
Le diagramme d’Ishikawa : c’est un outil graphique pour analyser et visualiser le rapport existant entre un MdD et toutes ses causes possibles. Il structure l’identification des causes selon cinq axes, appelés les « 5M » : Matières, Milieu, Méthodes, Matériels, Main-d'œuvre.
La méthode contrainte-résistance : cette méthode permet d’identifier, pour un MdD appelé « TOP EVENT », la cascade de cause-conséquence en utilisant le principe suivant : une défaillance a lieu quand l’une des conditions suivantes est remplie :
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soit à sollicitations données, la résistance est très faible ;
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soit à dimensionnement donné, les sollicitations sont trop importantes.
Arrêtez la décomposition cause/conséquence quand il s’agit de :
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un paramètre élémentaire de conception (module d’Young, épaisseur, rugosité,...
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DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
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Outil Analyse de problèmes par écart (Outil fic0415m3.docx ).
Cet outil permet d’identifier les causes d’un MdD qui apparait en développement ou chez le client. Elle consiste à identifiez un contexte similaire à celui qui a mené à la défaillance, mais qui n’a pas abouti à cette défaillance et d’analyser l’écart entre les deux situations selon les 6 questions suivantes : Qui ? Quoi ? Où ? Quand ? Comment ? Pourquoi ? Combien ?
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Outil Analyse des MdD fonctionnels, de leurs eEffets et de leur criticité (Outil fic0415m1.xlsx ).
Cet outil permet d’identifier les Modes de Défaillance (MdD) fonctions, composants et process, leurs causes, effets et de les hiérarchiser en fonction de leur gravité pour le client, leur probabilité et la possibilité de les détecter. Il permet également de définir les actions de levée de risques.
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Outil Identification des causes d’un MdD (Outil fic0415m2.xlsx ).
Cet outil permet d’identifier les causes et sous-causes d’un MdD, de les hiérarchiser...
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