Contactez-nous
Préparation d’échantillons
Caractérisation des polymères par microscopie électronique
AM3282 v1 Article de référence

Préparation d’échantillons
Caractérisation des polymères par microscopie électronique

Auteur(s) : Christopher John George PLUMMER

Date de publication : 10 avr. 2001 | Read in English

Logo Techniques de l'Ingenieur Cet article est réservé aux abonnés
Pour explorer cet article plus en profondeur Consulter l'extrait gratuit

Déjà abonné ?

Sommaire

Présentation

Auteur(s)

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

INTRODUCTION

Dès l’apparition des premiers microscopes électroniques à transmission ( MET ), la microscopie électronique a commencé à jouer un rôle clé dans l’étude de la morphologie et de la microdéformation des polymères de synthèse. La microscopie électronique à transmission des polymères s’appuie, pour beaucoup, sur les techniques d’observation de la matière organique développées dans les sciences de la vie (biologie, médecine), domaine où travaillent actuellement la majorité des microscopistes. Préparation spécifique des échantillons et difficultés liées à l’endommagement engendré par le faisceau électronique la caractérise par rapport à celle des autres matériaux (métaux, céramiques). Au contraire, les méthodes utilisées en microscopie électronique à balayage ( MEB ) sont plus classiques si, comme c’est souvent le cas, son utilisation se limite à l’observation topographique d’une surface. Toutefois, les développements récents comme la microscopie électronique à balayage à haute résolution ou sous pression partielle de vapeur s’annoncent très prometteurs pour certains types d’études spécifiques aux polymères.

Seront présentés dans l’ordre :

  • les interactions entre faisceau électronique et polymère et l’endommagement qui en résulte ;

  • les techniques de préparation d’échantillon les plus courantes ;

  • des modes d’observation particuliers.

Les aspects purement techniques de la microscopie électronique ne seront pas abordés ici pour autant qu’ils n’aient pas de rapport direct avec les polymères de synthèse.

Nota :

Nous remercions Christelle Grein pour la relecture de cet article.

Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94 % à découvrir.

Pour explorer cet article Consulter l'extrait gratuit

Déjà abonné ?


DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-am3282

Article inclus dans l'offre

"Plastiques et composites"

(401 articles)

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Des contenus enrichis

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir l'offre

3. Préparation d’échantillons

L’un des avantages du MEB est une préparation d’échantillons relativement facile. Dans la plupart des cas, l’objet est collé ou vissé à un support conducteur. On observe alors ses surfaces externes, coloriées au préalable si besoin est. Dans le MEB conventionnel, un contact est établi avec le support par une peinture contenant de l’argent colloïdal ou du noir de carbone. La surface à observer peut être rendue conductrice par évaporation d’une fine couche d’or ou de carbone. Néanmoins, ce n’est pas toujours nécessaire dans les microscopes modernes équipés de sources d’électrons performantes (canons LaB6 ou à émission de champ) qui permettent de travailler à de faibles tensions où le chargement électrostatique est réduit (figure 5 a ). Ces mêmes sources nécessitent cependant un vide poussé. Il est, par conséquent, important de dégazer les échantillons avant leur introduction dans le microscope et d’observer des objets de taille raisonnable (quelques mm3, si possible). Ces difficultés peuvent être contournées en travaillant soit à une très basse température (cryo-MEB), soit avec un système spécialement conçu pour opérer en présence d’un vide partiel (MEB « environnemental »). Nous reviendrons brièvement sur ces techniques dans le § 4.4.

Les méthodes de préparation d’échantillons pour le MET, dont les plus importantes seront résumées par la suite, doivent répondre à des critères plus stricts. En général, l’échantillon doit être plat, transparent aux électrons, stable dans le vide du microscope et suffisamment petit (il doit être placé sur une grille porte-échantillon d’un diamètre de 2 à 3 mm). Il est usuel de travailler avec des épaisseurs inférieures à 100 nm, mais on peut observer des échantillons...

Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95 % à découvrir.

Pour explorer cet article Consulter l'extrait gratuit

Déjà abonné ?


Lecture en cours
Préparation d’échantillons

Article inclus dans l'offre

"Plastiques et composites"

(401 articles)

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Des contenus enrichis

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir l'offre

Sommaire
Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - GRUBB (D.T.) -   *  -  J. Mater. Sci., 9, p. 1715 (1974).

  • (2) - REIMER (L.) -   Transmission Electron Microscopy.  -  Springer Verlag, Berlin (1993).

  • (3) - DU CHESNE (A.) -   *  -  Macromol. Chem. Phys., 200, p. 1813 (1999).

  • (4) - KRAMER (E.J.) -   *  -  In Adv. Poly. Sci., 52/53, KAUSCH (H.-H.) Ed., Springer Verlag, Berlin, Ch. 1 (1983).

  • (5) - KRAMER (E.J.), BERGER (L.L.) -   *  -  In Adv. Polym. Sci., 91/92, KAUSCH (H.-H.) Ed., Springer Verlag, Berlin, Ch. 1 (1983).

  • (6) - LOESCHE (M.), RABE (J.), FISCHER (A.), RUCHA (U.), KNOLL (W.), MOEHWALD (H.) -   *  -  Thin Solid Films, 117, p. 269 (1984).

  • (7)...

1 À lire également dans nos bases

LE GRESSUS (C.) - Microscopie électronique à balayage. - [P 865] Archives, janv. 1995.

PAQUETON (N.), RUSTE (J.) - Microscopie électronique à balayage – Principe et équipement. - [P 865] Traité Techniques d'analyse, mars 2006.

LOUCHET (F.), VERGER-GAUGRY (J.-L.), THIBAULT-DESSEAUX (J.), GUYOT (P.) - Microscopie électronique en transmission. Transmission conventionnelle et balayage en transmission. - [P 875] Traité Analyse et Caractérisation, avr. 1988.

HAUT DE PAGE

2 Annuaire

HAUT DE PAGE

2.1 Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs (liste non exhaustive)

BAL-TEC AG http://www.bal-tec.com

DIATOME Ltd. http://www.diatome.ch

Electron microscopy sciences http://www.emsdiasum.com/

Energy beam sciences Inc. ...

Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95 % à découvrir.

Pour explorer cet article Consulter l'extrait gratuit

Déjà abonné ?


Article inclus dans l'offre

"Plastiques et composites"

(401 articles)

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Des contenus enrichis

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir l'offre