Imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS pour l’analyse de tableaux anciens : Dossier complet | Techniques de l’Ingénieur

Article de référence | Réf : RE274 v1

Imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS pour l’analyse de tableaux anciens

Auteur(s) : Alain BRUNELLE

Date de publication : 10 janv. 2019