Exemples d’études de cas réels
Imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS pour l’analyse de tableaux anciens

BIBLIOGRAPHIE

• (1) - BRUNELLE (A.), TOUBOUL (D.), LAPRÉVOTE (O.) -   Biological Tissue Imaging with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Cluster Ion Sources.  -  Journal of Mass Spectrometry, 40, p. 985-999 (2005).

• (2) - VANBELLINGEN (Q.P.) -   Imagerie de substances naturelles par spectrométrie de masse.  -  Thèse de doctorat, Université Paris-Saclay. https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01278744 (2015).

• (3) - FU (T.) -   3D and High Sensitivity Micrometric Mass Spectrometry Imaging.  -  Thèse de doctorat, Université Paris-Saclay. https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01699065 (2017).

• (4) - TOUBOUL (D.), LAPRÉVOTE (O.), BRUNELLE (A.) -   Micrometric molecular histology of lipids by mass spectrometry imaging.  -  Current Opinion in chemical Biology, 15, p. 725-732 (2011).

• (5) - SODHI (R.N.S.) -   Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) : versatility in chemical and imaging surface analysis.  -  Analyst, 129, p. 483-487 (2004).

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DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES

• Spectrométrie de masse d’ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS – Principes et appareillages.

• Spectrométrie de masse d’ions secondaires : SIMS et ToF-SIMS – Procédures d’analyse et performances.

• Analyse de tableaux de Léonard de Vinci par spectrométrie de fluorescence des rayons X.

• Méthodes de spectroscopie d’absorption X pour l'analyse des matériaux du patrimoine.

• Émission X induite par particules chargées (PIXE) : théorie.

• Émission...

ANNEXES

1. 1 Événements
2. 2 Annuaire