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Diffraction dans les métaux et alliages : conditions de diffraction| Réf : M4127 v1
Auteur(s) : Richard A. PORTIER, Philippe VERMAUT, Bernard JOUFFREY
Date de publication : 10 mars 2008
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Nous avons tenté de montrer dans cet article la richesse de l'information sur le cristal obtenue par des techniques de diffraction électronique. Nous nous sommes limités aux cas pour lesquels les électrons incidents constituent un faisceau parallèle, donc sont décrits par une onde plane. Un intérêt majeur de ces techniques est le caractère très local de l'information. Il est en effet possible d'obtenir des tailles de sonde sur la face d'entrée du spécimen, dont le diamètre est de l'ordre du nanomètre. Néanmoins, il convient de prendre garde à l'étalement du faisceau lors de la traversée du spécimen qui conduit l'information à provenir d'un volume de matière plus important que celui du cylindre dont la section est la taille de la sonde.
D'autres techniques de diffraction des électrons rapides sont réalisables en microscrope électronique. Le faisceau incident est conique et formé de l'ensemble des ondes planes dont le vecteur incident est inclus dans le cône d'illumination. Ce sont les techniques de diffraction en faisceau convergent. Une nouvelle technique très prometteuse est la diffraction en mode précession. Cette fois, le diagramme de diffraction est constitué par l'accumulation d'un ensemble de diagrammes, chacun associé à une onde incidente plane, mais l'ensemble de ces vecteurs d'onde décrivant la surface d'un cône. La description de ces techniques fait l'objet de l'article [M 4 128].
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JEMS http://cimewww.epfl.ch/people/stadelmann/jemswebsite/jems.html
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