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Diffraction dans les métaux et alliages : conditions de diffractionArticle de référence | Réf : M4127 v1
Auteur(s) : Richard A. PORTIER, Philippe VERMAUT, Bernard JOUFFREY
Date de publication : 10 mars 2008
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Examinons maintenant les différents modes de diffraction exploités en microscopie électronique lorsque le faisceau incident est préparé sous forme d'une onde plane. Notons qu'il n'est ni strictement monochromatique ni strictement parallèle. Néanmoins, les appareils modernes permettent de décrire les expériences de diffraction dans cette condition d'illumination.
5.1 Diffraction par sélection d'aire
Cette technique de diffraction fut la première méthode très utilisée. Les microscopes d'une ancienne génération avaient, en général, seulement deux lentilles condenseur en amont du spécimen afin de préparer le faisceau incident. Il résultait de cette situation que la préparation du faisceau incident sous la forme d'une onde plane incidente nécessitait d'étaler largement ce faisceau et, de ce fait, nous obtenons l'illumination d'une zone très large de l'échantillon. Or, généralement, la contribution des zones très épaisses de l'échantillon vient brouiller le cliché avec un fond continu important lié aux interactions inélastiques, et le rend parfois inexploitable. De plus, nous avons souvent besoin de réaliser un cliché de diffraction d'un grain unique dans un échantillon polycristallin ou d'un précipité de petite taille en évitant les contributions des régions voisines du spécimen. Pour cela, il n'est pas techniquement possible d'introduire un diaphragme au niveau de la région d'intérêt du spécimen. Une solution simple pour obtenir des clichés de diffraction de qualité est de sélectionner la partie de la zone illuminée de l'échantillon qui nous intéresse, en introduisant un diaphragme au niveau du plan focal image de la lentille objectif (figure 16). Par la conjugaison classique de l'optique traditionnelle des lentilles, il lui correspond un diaphragme virtuel situé au niveau du plan de l'échantillon (plan objet de la lentille objectif). La construction des faisceaux sur la figure montre que le cliché de diffraction dans le plan focal arrière de la lentille objectif n'admet de contributions que venant des faisceaux diffractés issus de la région sélectionnée par le diaphragme virtuel, celles des autres régions étant éliminées par le diaphragme réel. Cette sélection d'aire dans le plan image de la lentille objectif s'effectuant sur une image de l'objet déjà agrandie d'un facteur M par...
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(1) - HAWKES (P.), KASPER (E.) - Principles of electron optics. - Academic Press, vol. 1 & 2 (1989), vol. 3 (1994).
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(liste non exhaustive)
Electron Diffraction http://www.univ-lille1.fr/lmpgm/Logiciel_JPMorniroli.htm
JEMS http://cimewww.epfl.ch/people/stadelmann/jemswebsite/jems.html
CrystalMaker http://www.crystalmaker.com/
CaRine http://www.esm-software.com/carine/
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