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Diffraction dans les métaux et alliages : conditions de diffraction| Réf : M4127 v1
Auteur(s) : Richard A. PORTIER, Philippe VERMAUT, Bernard JOUFFREY
Date de publication : 10 mars 2008
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Il existe de nombreux logiciels de simulation des clichés de diffraction. Nous pouvons citer deux d'entre eux, caractéristiques de deux approches différentes. La diffraction peut être abordée soit, sous un aspect géométrique avec la vérification des conditions de Bragg, soit sous un aspect plus physique avec en plus la résolution des équations différentielles de la diffusion des électrons par un cristal.
Dans le premier cas, citons le logiciel Electron Diffraction (figure 14) développé par Morniroli Diffraction électronique : illumination parallèle[16]. L'avantage d'une approche géométrique est qu'elle ne demande pas beaucoup de ressources informatiques. Les calculs sont rapides. L'interface est conviviale et l'appréhension du logiciel facile. La simulation du cliché de points consiste en un dessin de la coupe du réseau réciproque. Les indices
de chaque nœud sont indiqués. Il est possible d'afficher uniquement les réflexions autorisées ou d'inclure les réflexions interdites. Le logiciel permet également de réaliser la simulation de clichés de diffraction en incluant les lignes de Kikuchi, ou bien de simuler des clichés en faisceau convergent et faisceau convergent à grand angle. Il est agrémenté d'outils permettant de dessiner la structure sous différentes orientations (ce qui permet un contrôle de la structure introduite dans le logiciel), de calculer les distances réticulaires, l'angle entre deux directions ou deux plans, de dessiner des stéréogrammes et enfin d'un outil d'assistance à l'indexation des clichés. Ce dernier, à partir de la description du réseau de taches observé dans le cliché (deux distances mesurées directement sur le cliché, l'angle entre les deux vecteurs de base et une valeur de la longueur de caméra) propose un ensemble de solutions possibles d'orientation du cristal pour la structure envisagée, en fonction des incertitudes sur les distances mesurées et la longueur de caméra.
Pour un traitement plus quantitatif du phénomène de diffraction, citons...
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ÉTUDE ET PROPRIÉTÉS DES MÉTAUX
(1) - HAWKES (P.), KASPER (E.) - Principles of electron optics. - Academic Press, vol. 1 & 2 (1989), vol. 3 (1994).
(2) - BORN (M.), WOLF (E.) - Principles of optics. - Pergamon Press (1975).
(3) - MARECHAL (A.), FRANCON (M.) - Diffraction. Structure des images. - Masson, Paris (1970).
(4) - HIRSCH (P.B.), HOWIE (A.), NICHOLSON (R.B.), PASHLEY (D.W.), WHELAN (M.J.) - Electron microscopy of thin crystal. - Butterworths, Londres (1965).
(5) - PRESTON (G.D.) - * - Philos. Mag., 26, 855 (1938).
(6) - GUINIER (A.) - * - Ann. Phys., 13, 161 (1939).
(7) - COWLEY (J.M.) - Diffraction...
(liste non exhaustive)
Electron Diffraction http://www.univ-lille1.fr/lmpgm/Logiciel_JPMorniroli.htm
JEMS http://cimewww.epfl.ch/people/stadelmann/jemswebsite/jems.html
CrystalMaker http://www.crystalmaker.com/
CaRine http://www.esm-software.com/carine/
Gatan (Digital Micrograph) http://www.gatan.com/software/
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(liste non exhaustive)
Jeol http://www.jeol.fr
Zeiss http://www.smt.zeiss.com
Hitachi High-Technologies http://www.hitachi-hitec.com
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