Article

1 - APPLICATIONS À LA CARACTÉRISATION DES MATÉRIAUX

2 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : P2561 v3

Spectrométrie de collisions élastiques et de réactions nucléaires. Applications

Auteur(s) : Patrick TROCELLIER, Philippe TROUSLARD

Date de publication : 10 juin 2002

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Présentation

RÉSUMÉ

Le passage des particules chargées dans la matière ne manque pas d’y générer des transformations et des contraintes, jusqu’à des modifications de composition. Les collisions élastiques et des réactions nucléaires ainsi engendrées par les ions positifs énergétiques peuvent être exploitées à des fins d’analyse. Leurs spectrométries représentent de formidables outils expérimentaux pour la résolution d’un grand nombre de problèmes analytiques. Elles Cet article présente quelques applications conduisant notamment à la caractérisation de matériaux.

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ABSTRACT

The passage of charged particles in matter induces transformations, constraints and even changes in composition. The elastic collisions and nuclear reactions thus generated by energetic positive ions by collision energy can be exploited for analysis purposes. Their spectrometry is a wonderful experimental tool for solving a large number of analytical problems. This article presents certain applications which notably allow for the characterization of materials.

Auteur(s)

  • Patrick TROCELLIER : Docteur d’État, Ingénieur CEA Laboratoire Pierre Süe, CE Saclay

  • Philippe TROUSLARD : Ingénieur CEA Institut national des sciences et techniques nucléaires, CE Saclay

INTRODUCTION

Après avoir décrit les collisions élastiques et les réactions nucléaires en termes de mécanismes physiques et de formalisme mathématique [P 2 560], nous allons, dans cette seconde partie, donner quelques applications à la caractérisation de matériaux. Ces applications peuvent se rencontrer dans des disciplines aussi diverses que les Sciences des Matériaux, les Sciences de l’Univers, les Sciences de l’Environnement, les Sciences de la Vie ou les Sciences Humaines.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v3-p2561


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BIBLIOGRAPHIE

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  • (2) - JOHANSSON (S.A.E.), CAMPBELL (J.L.), MALMQVIST (K.G.) -   Particle-Induced X-ray Emission Spectrometry (PIXE)  -  . John Wiley & Sons, New York (1995).

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  • (6) - MAYER (J.W.), RIMINI (E.) -   Ion Beam Hand-book for Material Analysis  -  . Academic Press New York (1977).

  • ...

ANNEXES

  1. 1 Annexe

      1 Annexe

      Dans les Techniques de l’Ingénieur, traité Analyse et Caractérisation

      LE GRESSUS (C.) - Microscopie électronique à balayage - . P 865 (1995).

      DARQUE-CERETTI (E.) - MIGEON (H.N.) - AUCOUTURIER (M.) - Émission ionique secondaire SIMS : Principe et appareillage - . P 2 618 1, Procédures d’analyse P 2 619 (1998).

      LE GRESSUS (C.) - Spectroscopie des électrons Auger - . P 2 620 (1990).

      TRAN MINH DUC - Analyse de surface par ESCA - . P 2 626 (1998).

      NENNER (I.) - DOUCET (J.) - DEXPERT (H.) - Rayonnement synchrotron et applications - . P 2 700 (1996).

      REVEL (G.) - DURAUD (J.-P.) - Microsonde nucléaire - . P 2 563 (1995).

      HAUT DE PAGE

      Ouvrages généraux

      ALFASSI (Z.B.) - PEISACH (M.) - Elemental analysis of particle accelerators - . CRC Press, Boca-Raton (1992).

      BURKE (P.G.) - BERRINGTON (K.A.) - Atomic and Molecular Processes : An R-matrix Approach - . Institute of Physics Publishing, Bristol (1993).

      BURCHAM (W.E.) - JOBES (M.) - Nuclear and particle physics - . Longman Scientific & Technical, Londres (1995).

      DUNLOP (A.) - RULLIER-ALBENQUE (F.) - JAOUEN (C.) - TEMPLIER (C.) - DAVENAS (J.) eds - Materials under Irradiation - . Trans Tech Publications Ltd, Aedermannsdorf (1992).

      FELDMAN (L.C.) - MAYER (J.W.) - Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis - . North Holland, New York (1996).

      FRÖBRICH (P.) - LIPPERHEIDE (R.) - Theory of Nuclear Reactions - . Oxford Science Publications, Oxford (1996).

      JOHANSSON (S.A.E.) - CAMPBELL (J.L.) - MALM-QVIST (K.G.) - Particle-Induced X-ray Emission Spectrometry (PIXE) - . John Wiley & Sons, New York (1995).

      TESSMER (J.R.) - NASTASI (M.) - Handbook of Modern Ion Beam Materials...

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