1 Annexe
Dans les Techniques de l’Ingénieur, traité Analyse et Caractérisation
LE GRESSUS (C.) - Microscopie électronique à balayage - . P 865 (1995).
DARQUE-CERETTI (E.) - MIGEON (H.N.) - AUCOUTURIER (M.) - Émission ionique secondaire SIMS : Principe et appareillage - . P 2 618 1, Procédures d’analyse P 2 619 (1998).
LE GRESSUS (C.) - Spectroscopie des électrons Auger - . P 2 620 (1990).
TRAN MINH DUC - Analyse de surface par ESCA - . P 2 626 (1998).
NENNER (I.) - DOUCET (J.) - DEXPERT (H.) - Rayonnement synchrotron et applications - . P 2 700 (1996).
REVEL (G.) - DURAUD (J.-P.) - Microsonde nucléaire - . P 2 563 (1995).
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Ouvrages généraux
ALFASSI (Z.B.) - PEISACH (M.) - Elemental analysis of particle accelerators - . CRC Press, Boca-Raton (1992).
BURKE (P.G.) - BERRINGTON (K.A.) - Atomic and Molecular Processes : An R-matrix Approach - . Institute of Physics Publishing, Bristol (1993).
BURCHAM (W.E.) - JOBES (M.) - Nuclear and particle physics - . Longman Scientific & Technical, Londres (1995).
DUNLOP (A.) - RULLIER-ALBENQUE (F.) - JAOUEN (C.) - TEMPLIER (C.) - DAVENAS (J.) eds - Materials under Irradiation - . Trans Tech Publications Ltd, Aedermannsdorf (1992).
FELDMAN (L.C.) - MAYER (J.W.) - Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis - . North Holland, New York (1996).
FRÖBRICH (P.) - LIPPERHEIDE (R.) - Theory of Nuclear Reactions - . Oxford Science Publications, Oxford (1996).
JOHANSSON (S.A.E.) - CAMPBELL (J.L.) - MALM-QVIST (K.G.) - Particle-Induced X-ray Emission Spectrometry (PIXE) - . John Wiley & Sons, New York (1995).
TESSMER (J.R.) - NASTASI (M.) - Handbook of Modern Ion Beam Materials...