1 Interactions électron-solide
1.1 Diffusion élastique
1.2 Diffusion inélastique
1.3 Émission d'électrons secondaires
1.4 Relaxation des niveaux ionisés: émission de rayons X et d'électronsAuger
1.5 Électrons rétrodiffusés
1.6 Diffraction et canalisation électronique
1.7 Spectroscopies de seuils et EXAFS
2 Appareillage
2.1 Enceinte à vide
2.2 Colonne optique
2.21 Canon à électrons
2.22 Système électro-optique
2.23 Principales aberrations. Résolution
2.3 Détecteurs
2.31 Détecteurs amplificateurs de courants
2.32 Détecteurs de rayons X
2.33 Détecteur de cathodoluminescence
2.34 Détecteurs d'électrons
2.35 Dispositifs de diffraction
2.4 Dispositif porte-échantillon
3 Mesures effectuées dans un MEB
3.1 Préparation des échantillons
3.11 Montage d'échantillon
3.12 Dégâts d'irradiation
3.13 Contrastes
3.2 Études basées sur l'émission électronique secondaire
3.3 Études cristallographiques: lignes de Kikuchi
3.4 Composition élémentaire et analyse chimique
3.5 Mesures en cathodoluminescence
3.6 Propriétés électroniques
4 Conclusion
Index bibliographique
