Article

1 - PRINCIPE

2 - RAPPELS SUR LES INTERACTIONS ÉLECTRONS-MATIÈRE

3 - INSTRUMENT

4 - CONCLUSION

5 - GLOSSAIRE

6 - SIGLES, NOTATIONS ET SYMBOLES

Article de référence | Réf : P865 v4

Microscopie électronique à balayage - Principe et équipement

Auteur(s) : François Brisset, Jacky Ruste

Date de publication : 10 sept. 2024

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RÉSUMÉ

La microscopie électronique à balayage MEB, est une technique puissante d'observation de la surface des échantillons. Elle peut mettre en valeur la topographie des surfaces non polies. Cette technique est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l'impact d'un très fin faisceau d'électrons primaires qui balaye la surface observée. Elle permet d'obtenir des images ayant une résolution spatiale souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ comparée à des images obtenues par microscopie optique. Les différentes parties de l'instrument seront décrites dans les pages suivantes : les sources d'électrons, la colonne électronique et les détecteurs les plus courants.

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Auteur(s)

  • François Brisset : Ingénieur de recherche CNRS - Université Paris Saclay/CNRS, ICMMO, Orsay

  • Jacky Ruste : Précédemment ingénieur sénior à EDF Les Renardières, Moret-sur-Loing

INTRODUCTION

La microscopie électronique à balayage MEB (ou Scanning Electron Microscopy, SEM) est une technique puissante d’observation des échantillons et en particulier de la topographie des surfaces. Elle est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l’impact d’un très fin faisceau d’électrons primaires qui balaye la surface d’un échantillon et permet d’obtenir des images avec un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm, et une grande profondeur de champ.

Le MEB peut aussi utiliser, en complément de l’émission électronique secondaire, d’autres signaux émis par les interactions entre les électrons primaires et l’échantillon : les électrons rétrodiffusés, la diffraction des électrons rétrodiffusés, les électrons absorbés, les électrons transmis au travers d’une lame mince, ainsi que l’émission de photons X, parfois celle de photons proches du visible, etc. Ces interactions sont souvent significatives de la topographie ou de la composition de la surface, ou encore de l’orientation cristalline locale.

L’instrument permet de former un faisceau, très fin (jusqu’au nanomètre), d’électrons accélérés par des tensions réglables de 0,01 à 30 kV, de le focaliser et de le balayer sur la zone de l’échantillon à examiner. Des détecteurs appropriés, détecteurs d’électrons spécifiques (secondaires, rétrodiffusés, etc.), complétés par des détecteurs de photons, ou d’autres, permettent de recueillir des signaux significatifs émis lors du balayage de la surface, et d’en former diverses images alors synchronisées avec le balayage.

Le présent article rappelle la constitution de l’instrument, et les interactions électrons-matière sources d’imagerie. L’article [P 866] précise la formation des images, les sources de contraste, les récents développements de l’instrument, et les diverses applications.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v4-p865


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - HEINRICH (K.), HEINRICH (J.) -   X-rays optics and microanalysis.  -  Édts CASTAING (R.), DESCHAMPS (R.) et PHILIBERT (J.), Hermann Paris, p. 159 (1966).

  • (2) - ARNAL (F.), VERDIER (P.), VINCINSINI (P.D.) -   Coefficient de rétrodiffusion dans de cas d’électrons monocinétiques arrivant sur la cible sous une incidence oblique.  -  CR acad. Sci., Paris, 268, p. 1526 (1969).

  • (3) - CASTAING (R.) -   Advances in electronics and electron physics.  -  Edts MASSON (C.), NY, Academic Press, p. 317 (1960).

  • (4) - EVERHART (I.F.), THORNLEY (R.F.M.) -   Wide band detector for micro-ampere low energy electrons currents.  -  J. Sci. Inst., st, 37, p. 246-248 (1960).

  • (5) - COLLIEX (C.) -   La microscopie électronique.  -  PUF, Que Sais-Je ? 1045 (1998).

  • (6) - MAGNAN...

NORMES

  • Analyse par microfaisceau – microscopie électronique à balayage - ISO TC202 -

  • Terminologie - TC202/SC1 -

  • Microanalyse par sonde à électrons - TC202/SC2 -

  • Microscopie analytique à électrons - TC202/SC3 -

  • Microscopie électronique à balayage - TC202/SC4 -

1 Annuaire

HAUT DE PAGE

1.1 Organismes – Fédérations – Associations (liste non exhaustive)

GNMEBA : Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et microAnalyses, Ouvrages du groupement disponibles chez EDP Sciences, collection GN-MEBA

Sfmu : Société française des microscopies (plus spécifique à la microscopie électronique en transmission)

SFP : Société Française de Physique

EMAS : European Microbeam Analysis Society

CAZAC : groupe d’utilisateurs Zeiss

CMJ : groupe d’utilisateurs Jeol

GATE : groupe d’utilisateurs Gatan-EDAX

SEMPA : groupe d’utilisateurs FEI

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