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EnglishRÉSUMÉ
Le bruit de fond des composants électroniques revêt une importance fondamentale dans les techniques de mesure. Sa connaissance et sa mesure sont donc nécessaires, non seulement lors de l’utilisation des circuits mais aussi au moment de leur conception. Cet article présente le bruit de fond attaché aux principaux composants électroniques de base (résistances, capteurs, transistors MOS et bipolaire, circuits intégrés linéaires…). Sont ensuite exposés les différents modèles associés à ces composants, avant de s’intéresser à la conception à faible bruit et ses limites.
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Lire l’articleAuteur(s)
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Matteo VALENZA : Professeur à l’Université Montpellier II
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Fabien PASCAL : Professeur à l’Université Montpellier II
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Alain HOFFMANN : Professeur à l’Université Montpellier II
INTRODUCTION
Ce texte doit se lire à la suite du dossier . Quatre objectifs sont développés dans ces dossiers.
Le premier objectif fait l’objet du dossier .
Le deuxième objectif est de présenter le bruit de fond qui s’attache aux principaux composants électroniques de base, passifs et actifs : résistances et capteurs, différents types de transistors et circuits intégrés linéaires 1 ;
Le troisième objectif est de faire connaître les différentes méthodes de mesure du bruit de fond et la précision de mesure qui s’y attache (§ 2, § 3) ;
Enfin, le dernier but de ces dossiers, et non le moindre, est de bien faire comprendre au lecteur l’importance du bruit de fond dans les techniques de mesures, ainsi que l’importance de maîtriser sa connaissance dans les composants et les circuits utilisés ou choisis lors de la conception des circuits électroniques à faible bruit 4.
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BIBLIOGRAPHIE
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(1) - HOOGE (F.), KLEINPENNING (T.), VANDAMME (L.) - * - Repts. Progr. Phys., 44, p. 479 (1981).
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(3) - JARRIX (S.), DELSENY (C.), PASCAL (F.), LECOY (G.) - Noise correlation measurements in bipolar transistors Part 1 : Theoretical expressions and extracted current spectral densities - . J. Appl. Phys. 81(6), p. 2651-2657 (1997).
-
(4) - DELSENY (C.), PASCAL (F.), JARRIX (S.), LECOY (G.) - Noise correlation measurements in bipolar transistors Part 2 : Correlation between base and collector currents - . J. Appl. Phys., 81(6), p. 2658-2663 (1997).
-
(5) - PASCAL (F.), CHAY (C.), DEEN (M.J.), JARRIX (S.G.), DELSENY (C.), PÉNARIER (A.) - Comparison of low frequency noise in III-V and Si/SiGe HBTs - . IEE Proc. Circuits Devices Syst., 151, 2, p. 138-146 (2004).
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ANNEXES
(liste non exhaustive)
Synergie Concept, à Meylanhttp://www.synergie-concept.fr
HTDS, à Massy HAUT DE PAGECet article fait partie de l’offre
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