Article

1 - SPECTROMÈTRES : DÉFINITIONS ET TYPES

2 - RÉSEAUX DE DIFFRACTION

3 - MONTAGE OPTIQUE À RÉSEAU PLAN

4 - MONTAGES OPTIQUES À RÉSEAU CONCAVE

5 - DISPERSION LINÉAIRE RÉCIPROQUE

6 - RÉSOLUTIONS THÉORIQUE ET PRATIQUE

7 - MESURE DE L’INTENSITÉ NETTE D’UNE RAIE D’ANALYSE

  • 7.1 - Polychromateur à fentes fixes
  • 7.2 - Monochromateur
  • 7.3 - Étalonnage en longueur d’onde

8 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : P2660 v1

Systèmes dispersifs en spectrométrie atomique

Auteur(s) : Jean-Michel MERMET

Date de publication : 10 mars 2002

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Présentation

Auteur(s)

  • Jean-Michel MERMET : Ingénieur de l’École nationale supérieure de chimie de Strasbourg - Docteur ès sciences - Directeur de recherche au CNRS Laboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)

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INTRODUCTION

De nombreuses méthodes d’analyse élémentaire sont fondées sur l’utilisation de spectres de raies atomiques. On peut citer la spectrométrie d’émission atomique avec comme sources de radiation possibles la flamme, l’arc, l’étincelle, la décharge luminescente et les plasmas (en particulier les plasmas à couplage inductif ou ICP), la spectrométrie d’absorption atomique avec comme sources d’atomisation la flamme et le four, et la spectrométrie de fluorescence atomique. Pour pouvoir utiliser une raie d’un spectre, il est nécessaire de pouvoir l’isoler à l’aide d’un système qui va disperser la lumière en fonction de la longueur d’onde. Si les deux derniers types de spectrométrie permettent de s’affranchir presque totalement des interférences spectrales, il n’en est pas de même pour la spectrométrie d’émission. Il faut alors que la raie sélectionnée pour l’analyse soit séparée des autres raies présentes dans le spectre d’émission. Le rôle du système dispersif devient alors crucial, en particulier au niveau de la versatilité de la sélection de la raie suivant le problème analytique, de la résolution permettant de séparer la raie et du domaine de longueurs d’onde accessible par le système. Les différents types de spectromètre, les réseaux de diffraction, plan, concave, échelle, avec leurs propriétés, les différents montages optiques, les concepts de résolution théorique et pratique, et la mesure de l’intensité nette d’une raie spectrale seront décrits dans cet article.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-p2660


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - ZANDER (A.T.), MILLER (M.H.), HENDRICK (M.S.), EASTWOOD (D.) -   Spectral efficiency of the Spectraspan III Echelle grating spectrometer.  -  Appl. Spectrosc. 39, p. 1 (1985).

  • (2) - BILHORN (R.B.), BONNER DENTON (M.) -   Elemental analysis with a plasma emission echelle spectrometer employing a charge injection device (CID) detector.  -  Appl. Spectrosc. 43, p. 1 (1989).

  • (3) - PILON (M.J.), BONNER DENTON (M.), SCHLEICHER (R.G.), MORAN (P.M.), SMITH, Jr (S.B.) -   Evaluation of a new array detector atomic emission spectrometer for inductively coupled plasma atomic emission spectrometry.  -  Appl. Spectrosc. 44, p. 1613 (1990).

  • (4) - SCHEELINE (A.), BYE (C.A.), MILLER (D.L.), RYNDERS (S.W.), CLAVIN OWEN Jr (R.) -   Design and characterization of an echelle spectrometer for fundamental and applied emission spectrochemistry.  -  Appl. Spectrosc. 45, p. 334 (1991).

  • (5) - BARNARD (T.W.), CROCKETT (M.J.), IVALDI (J.C.), LUNDBERG (P.L.) -   Design and evaluation of an echelle grating optical system for ICP-OES.  -  Anal. Chem. 65, p. 1225 (1993).

  • ...

DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES

  • Spectrométrie d’absorption atomique.

  • Spectrofluorimétrie moléculaire et spectrométrie de fluorescence atomique.

1 Constructeurs

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1.1 Constructeurs d’ensembles source de rayonnement et système dispersifs

GBC

Hitachi

Jobin-Yvon/Horiba

Leeman

Perkin-Elmer Instruments

Shimadzu

Spectro Analytical

Thermo Optek

Varian, Inc

HAUT DE PAGE

1.2 Constructeurs de systèmes dispersifs

Jobin-Yvon/Horiba

Acton Research

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