Article précédent
Diffraction des métaux et alliages - Interactions particules-matière| Réf : M4126 v1
Auteur(s) : Bernard JOUFFREY, Richard A. PORTIER
Date de publication : 10 juin 2007
Article suivant
Diffraction électronique : illumination parallèleQue contient cette offre ? Une offre 100% en ligne
Une base complète et actualisée d'articles validés par des comités scientifiques
Service de Questions aux experts
et outils pratiques
Quitter la lecture facile
L’interprétation de la diffraction cristalline a fait, autant d’un point de vue expérimental que théorique, des progrès majeurs ces dernières années, notamment en microscopie électronique. Le développement des microscopes électroniques avec des canons à émission de champ et la correction de l’aberration de sphéricité par la méthode proposée par H. Rose et réalisée par Haider permettent d’obtenir en microscopie électronique à transmission des clichés de diffraction où l’on retrouve des résolutions correspondant à celles trouvées en image haute résolution, c’est-à-dire meilleures que 0,1 nm. L’entrefer des pièces polaires de l’objectif devient plus important (≈ 4,9 mm pour le microscope FETI, TITAN avec des inclinaisons de l’objet de ± 70o), ce qui permet d’observer pratiquement en 3D le réseau direct et le réseau réciproque.
La panoplie des microscopes électroniques est maintenant très riche et en pleine évolution, sans oublier les versions mixtes ou spécifiques utilisant la formation de l’image par balayage en transmission (scanning transmission electron microscopy, STEM).
On peut trouver des informations sur ces questions dans un certain nombre de livres récents ou plus anciens dont quelques-uns ont déjà été cités. Nous donnons ici quelques références supplémentaires de livres utiles ...
Vous êtes abonné à cette offre ?
Connectez-vous !
Vous souhaitez découvrir cette offre ?
Cet article est inclus dans l'offre :
ÉTUDE ET PROPRIÉTÉS DES MÉTAUX
(1) - DESJONQUÈRES (M.C.), SPANYAARD - Concepts in surface physics. - Springer (1996).
(2) - SEARS (V.F.) - Neutron optics. - Oxford series on Neutron Scattering in Condensed Matter. Oxford University Press (1989).
(3) - BORMANN (G.) - * - Phys. Z., 42, p. 157 (1941) ; Z. Phys., 127, p. 297 (1950).
(4) - HASHIMOTO (H.), HOWIE (A.), WHELAN (M.J.) - * - Proc. Royal Soc. Lond. A, 269, p. 80 (1962).
(5) - STADELMANN (P.) - EMS a software package for electron diffraction analysis and HREM simulation in materials science. - Ultramicroscopy, 21, p. 131-146 (1987).
(6) - EWALD (P.P.) - * - Z. Krist., 56, p. 129 (1921).
...
DÉTAIL DE L'ABONNEMENT :
TOUS LES ARTICLES DE VOTRE RESSOURCE DOCUMENTAIRE
Accès aux :
Articles et leurs mises à jour
Nouveautés
Archives
Formats :
HTML illimité
Versions PDF
Site responsive (mobile)
Info parution :
Toutes les nouveautés de vos ressources documentaires par email
DES SERVICES ET OUTILS PRATIQUES
Votre site est 100% responsive, compatible PC, mobiles et tablettes.
FORMULES
| Formule monoposte | Autres formules | |
|---|---|---|
| Ressources documentaires | ||
| Consultation HTML des articles | Illimitée | Illimitée |
| Téléchargement des versions PDF | 5 / jour | Selon devis |
| Accès aux archives | Oui | Oui |
| Info parution | Oui | Oui |
| Services inclus | ||
| Questions aux experts (1) | 4 / an | Jusqu'à 12 par an |
| Articles Découverte | 5 / an | Jusqu'à 7 par an |
| Dictionnaire technique multilingue | Oui | Oui |
|
(1) Non disponible pour les lycées, les établissements d’enseignement supérieur et autres organismes de formation. |
||
| AJOUTER AU PANIER | DEMANDER UN DEVIS | |
