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Évaluation non destructive de la qualité des matériaux (Partie 2)Article de référence | Réf : M4134 v1
Auteur(s) : Miroslav KARLÍK, Bernard JOUFFREY
Date de publication : 10 juin 2008
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Étude et propriétés des métaux (198 articles en ce moment)
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1.1 Microscope électronique en transmission
Le microscope électronique en transmission (MET), dit conventionnel, fonctionne, pour l'étude des matériaux, sous une tension accélératrice usuelle de 100 à 300 kV. Des tensions plus élevées ont été utilisées (jusqu'à 3 MV, à Toulouse), mais ce n'est pratiquement qu'au Japon que l'on trouve encore des appareils fonctionnant sous 1 à 2 MV.
Le MET donne d'un objet mince, traversé par des électrons rapides, une image globale. La colonne (figure 1) est constituée d'un canon à électrons, de l'accélérateur, de lentilles magnétiques (2 ou 3) qui forment l'ensemble condenseur, d'une lentille objectif, d'une ou deux lentilles intermédiaires, d'une lentille de projection (projecteur) et d‘une chambre d'observation et d'enregistrement de l‘image ou du diagramme de diffraction. L'intérieur de la colonne est sous un vide d'environ 10–3 à 10–5 Pa. Un vide plus propre et poussé est nécessaire autour du canon et aux alentours de l'échantillon, qui s'insère au milieu de la colonne, entre les pièces polaires de la lentille objectif.
HAUT DE PAGE1.2 Microscope électronique à balayage en transmission (STEM)
Dans le microscope électronique à balayage en transmission (STEM), le faisceau d'électrons est focalisé en une sonde très fine (qui peut atteindre le dixième de nanomètre environ dans les appareils très récents). Cette sonde explore l'échantillon point par point, comme dans un système de télévision. Le microscope (figure 2) est constitué de l'étage au-dessus de l'échantillon (objectif, condenseurs, canon) et des détecteurs au-dessous de l'échantillon. Sur l'écran d'observation, l'image est formée point par point, en phase avec le balayage de l'échantillon, comme dans un système de télévision. L'intensité provient du faisceau transmis (BF), diffracté (DF) ou diffusé à grande angle (HAADF : High angle annular dark field ). On peut également utiliser d'autres signaux, photons X ou cathodoluminescence. L'acquisition numérique du signal est propre à cette méthode....
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ÉTUDE ET PROPRIÉTÉS DES MÉTAUX
(1) - OTTEN (M.T.) - Alignment of the Transmission Electron Microscope. - Philips Electron Optics (1993).
(2) - WILLIAMS (D.B.), CARTER (C.B.) - Transmission Electron Microscopy. - Plenum Press, New York (1996).
(3) - ROSE (H.) - Correction of aberrations, a promising means for improving the spatial and energy resolution of energy-filtering electron microscopes. - Ultramicroscopy, 56, p. 11 (1994).
(4) - KAWASAKI (T.), YOSHIDA (T.), MATSUDA (T.), OSAKABE (N.), TONOMURA (A.), MATSUI (I.), KITAZAWA (K.) - Fine crystal lattice fringes observed using a transmission electron microscope with 1 MeV coherent electron waves. - Applied Physics Letters, 76, p. 1342-1344 (2000).
(5) - YAMAMOTO (K.), KAWAJIRI (I.), TANJI (T.), HIBINO (M.), HIRAYAMA (T.) - * - Journal of Electron Microscopy, 49(1), p. 31-39 (2000).
(6) - HAIDER (M.), ROSE (H.), UHLEMANN (S.), SCHWAN (E.),...
Diffraction des métaux et alliages. Interactions particules-matière,
Diffraction dans les métaux et alliages : conditions de diffraction,
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