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1 - PRÉSENTATION GÉNÉRALE

2 - SPECTROSCOPIE DES PERTES D'ÉNERGIE DES ÉLECTRONS

3 - SPECTROSCOPIE X À DISPERSION D'ÉNERGIE

Article de référence | Réf : M4136 v1

Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Analyse chimique locale

Auteur(s) : Miroslav KARLÍK, Bernard JOUFFREY

Date de publication : 10 sept. 2008

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RÉSUMÉ

Pour la compréhension des propriétés des matériaux, l'analyse chimique locale en microscopie électronique est de plus en plus utilisée. Dans ce dossier, sont décrites, de manière pratique, les deux techniques qui équipent les microscopes actuels, l'analyse des rayons X caractéristiques et la spectrométrie des pertes d'énergie. Dans la partie pertes d'énergie, les transitions de faible énergie, telles qu’excitations de plasmons, transitions interbandes ou effet Cerenkov ne sont pas traitées. Seule l'utilisation des seuils d'ionisation caractéristiques des atomes est abordée.

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ABSTRACT

In order to understand the properties of materials, the local chemical analysis in electron microscopy is increasingly used. This article presents the two techniques with which current microscopes are equipped and the analysis of characteristic X-rays and energy-loss spectrometry, in a concrete way. Within the energy loss section, low-energy transitions such as plasmon excitation, interband transition or the Cherenkof effect are not dealt with. Only the use of ionization thresholds characteristics of atoms is presented.

Auteur(s)

INTRODUCTION

Pour la compréhension des propriétés des matériaux, l'analyse chimique locale en microscopie électronique (MET et STEM) est de plus en plus utilisée. Dans ce dossier, sont décrites, de manière pratique, les deux techniques qui équipent les microscopes actuels, l'analyse des rayons X caractéristiques (EDXS – energy dispersive X-ray spectroscopy) et la spectrométrie des pertes d'énergie (EELS – electron energy loss spectrometry).

Dans la partie pertes d'énergie, les transitions de faible énergie (excitations de plasmons, transitions interbandes, effet Cerenkov...) ne sont pas traitées.

Seule l'utilisation des seuils d'ionisation caractéristiques des atomes est abordée.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-m4136


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