S'inscrire aux newsletters

Article précédent

Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Microscope, échantillons et diffraction

| Réf : M4135 v1

Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET)- Formation des images

Auteur(s) : Miroslav KARLÍk, Bernard JOUFFREY

Date de publication : 10 sept. 2008

Article suivant

Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET) - Analyse chimique locale

Cet article fait partie de l’offre Étude et propriétés des métaux

L'accès à une base complète d'articles actualisée et mise à jour en permanence

En ce moment 195 articles

Des services
et outils pratiques

100 % web consultable
sur tous les supports numériques

VOIR L'OFFRE

Quitter la lecture facile

RÉSUMÉ

La microscopie électronique en transmission est basée sur l'interaction des électrons avec la matière qui entraîne une distribution non uniforme de l'intensité du faisceau sur la face de sortie de la lame mince. Cependant, cette non-uniformité ne permet pas, en général, d'obtenir une image avec un contraste suffisant. Pour avoir des images exploitables, il faut seulement sélectionner une partie du faisceau d'électrons à l'aide d'un diaphragme. Le contraste est donc créé par les manipulations de l'opérateur et dépend du processus opératoire.

ABSTRACT

Transmission electron microscopy is based upon the interaction of electrons with matter which causes a non-uniform distribution of the intensity of the beam on the output side of the thin blade. However, this non-uniformity does not generally allow for obtaining an image with sufficient contrast. In order to obtain usable images, it is sufficient to select a part of the electron beam by means of a diaphragm. The contrast is thus created by manipulations from the operator and depends on the operating process.

INTRODUCTION

Ce dossier traite, de manière pratique, de la formation de l'image globale en microscopie électronique en transmission (MET), qui est obtenue de différentes manières. Le point essentiel concerne la position du diaphragme, dit de contraste, qui se trouve dans le plan focal de la lentille objectif. Les différents types de contraste, notamment de diffraction, d'interférences (contraste de phase), en Z (utilisé en STEM, microscopie électronique à balayage en transmission) sont répertoriés dans ce texte.

L'énergie des électrons, la qualité de la source (émission de champ, cathode émissive en LaB₆ ...) sont également primordiales. La correction des aberrations de l'objectif, notamment l'aberration sphérique, permet d'améliorer fortement la résolution, puisqu'elle peut être maintenant meilleure que le dixième de nanomètre (elle peut atteindre 0,05 nm).

Il est montré que le contraste d'une image est profondément relié aux diverses réflexions qui constituent le diagramme de diffraction (par exemple dans l'étude des précipités).

Le mode haute résolution (contraste d'interférences) permet d'observer l'image dite de structure qui, selon la résolution du microscope, révèle des colonnes ou des petits ensembles de colonnes atomiques. Dans cette approche, les défauts cristallins peuvent être observés et leurs caractéristiques déterminées, mais en prenant également quelques précautions qui dépendent du niveau d'information désiré. L'utilisation de codes de simulations des images est devenue indispensable.

Le dossier aborde rapidement l'holographie qui permet, par exemple, d'étudier des répartitions de potentiel électrique dans des coupes minces de transistors.

Lire l’article en entier

PERMALIEN

https://www.techniques-ingenieur.fr/base-documentaire/materiaux-th11/essais-metallographiques-des-metaux-et-alliages-42343210/etude-des-metaux-par-microscopie-electronique-en-transmission-met-m4135/

RÉFÉRENCE BIBLIOGRAPHIQUE

Exportez la référence bibliographique

Corps de l'article

Auteur(s)

Miroslav KARLÍk : Czech Technical University in Prague
Bernard JOUFFREY : École Centrale Paris

BIBLIOGRAPHIE

(1) - REIMER (L.) - Transmission Electron Microscopy. - 3rd ed., Springer Series in Optical Sciences, vol. 36, Springer-Verlag, Berlin, 545 p. (1993).
(2) - WILLIAMS (D.B.), CARTER (C.B.) - Transmission Electron Microscopy. - Plenum Press, New York, 729 p. (1996).
(3) - SPENCE (J.C.H.) - High-Resolution Electron Microscopy. - 3rd ed., Oxford Univ. Press, New York, 401 p. (2003).
(4) - JOUFFREY (B.), BOURRET (A.), COLLIEX (C.) - Microscopie électronique en science des matériaux. - École d'été CNRS, Bombannes (1981).
(5) - EPICIER (T.), THIBAULT (J.) - Microscopie Électronique à Haute Résolution. - Dans J.P. MORNIROLLI (Ed.) Microscopie des défauts cristallins, École thématique, St Pierre d'Oléron, Société Française des Microscopies, p. 229-277 (2001).
(6) - KARLÍK...

ANNEXES

1 À lire également dans nos bases

1 À lire également dans nos bases

PAQUETON (H.) - RUSTE (J.) - Microscopie électronique à balayage. Principe et équipement - [P 865]. Base « Technique d'analyse » (2006).

JOUFFREY (B.) - PORTIER (R.A.) - Diffraction des métaux et alliages. Interactions particules-matière - [M 4 125]. Base « Étude et propriétés des métaux » (2007).

JOUFFREY (B.) - PORTIER (R.A.) - Diffraction des métaux et alliages : conditions de diffraction - [M 4 126]. Base « Étude et propriétés des métaux » (2007).

KARLÍK (M.) - JOUFFREY (B.) - Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET). Microscope, échantillons et diffraction - [M 4 134]. Base « Étude et propriétés des métaux » (2008).

KARLÍK (M.) - JOUFFREY (B.) - Étude des métaux par microscopie électronique en transmission (MET). Analyse chimique - [M 4 136]. Base « Étude et propriétés des métaux » (2008).

HAUT DE PAGE

Les avantages et services compris dans votre offre

accès

Accès illimité aux
articles en HTML

Enrichis et mis à jour pendant
toute la durée de la souscription

Téléchargement des articles
au format PDF

Pour un usage en toute liberté

Consultation sur tous
les supports numériques

Des contenus optimisés pour
ordinateurs, tablettes et mobiles

services et outils pratiques

Questions aux experts

Les meilleurs experts techniques
et scientifiques vous répondent

Articles découverte

La possibilité de consulter des
articles en dehors de votre offre

Dictionnaire technique multilingue

45 000 termes en français, anglais,
espagnol et allemand

Archives

Technologies anciennes et versions
antérieures des articles

Impression à la demande

Commandez les éditions papier
de vos ressources documentaires

Alertes actualisation

Recevez par email toutes les nouveautés
de vos ressources documentaires

détails de l'offre

	Licence annuelle monoposte	Licence pluriannuelle et/ou multiposte
Droit d'accès
Accès HTML aux articles	Illimité	Illimité
Téléchargement des versions pdf	5 / jour	> 5 / jour (2)
Consultation sur tous les supports	Oui	Oui
Les services
Questions aux experts (1)	4 / an	> 4 / an (2)
Articles découverte	5 / an	> 5 / an (2)
Dictionnaire technique multilingue	Oui	Oui
Archives	Oui	Oui
Impression à la demande	45 € / exemplaire	45 € / exemplaire
Infos mise à jour	Oui	Oui
	AJOUTER AU PANIER	DEMANDER UN DEVIS

(1) Non disponible pour les lycées, les établissements d’enseignement supérieur et autres organismes de formation. (2) Sur devis

AJOUTER AU PANIER

DEMANDER UN DEVIS

Sommaire
Sommaire détaillé

INTRODUCTION

1 - PRÉSENTATION GÉNÉRALE

2 - DÉFINITION DU CONTRASTE

$Taille et position du diaphragme de contraste correspondant à l'image en contraste de diffraction et en contraste de phase$

3 - CONTRASTE MASSIQUE

$Contraste de masse des particules Al12(Fe,Mn)3Si en champ clair (partie droite du cliché), et contraste de diffraction dans lequel les dislocations deviennent visibles (partie gauche). Alliage d'aluminium, cliché M. Cieslar, Université Charles, Prague$

4 - CONTRASTE DE DIFFRACTION

4.1 - Champ clair, champ sombre
4.2 - Optimisation du contraste, ajustement du vecteur
4.3 - Faisceaux faibles
4.4 - Artefacts dans les images – effets de l'épaisseur et de déformation
4.5 - Choix de la zone d'observation et du vecteur de diffraction

5 - CONTRASTE DE PHASE

5.1 - Aspects pratiques de la résolution atomique

$Zones de Guinier-Preston dans l'alliage Al-Cu et le cliché de diffraction correspondant, d'après$
5.2 - Résolution du microscope avec un correcteur CS
5.3 - Interprétation des images expérimentales
5.4 - Holographie électronique