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Évaluation non destructive de la qualité des matériaux (Partie 2)Article de référence | Réf : M4134 v1
Auteur(s) : Miroslav KARLÍK, Bernard JOUFFREY
Date de publication : 10 juin 2008
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Étude et propriétés des métaux (197 articles en ce moment)
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Par rapport aux autres techniques de diffraction (rayons X et neutrons), la diffraction électronique permet de réaliser des analyses structurales à une échelle microscopique en corrélation avec l'image. Les diagrammes de diffraction sont une très riche source d'informations sur la structure cristallographique des métaux et sur leurs défauts. Selon les besoins, il est possible d'employer plusieurs modes de diffraction, qui diffèrent par la taille de la zone illuminée et par l'angle de convergence du faisceau incident. On trouvera ailleurs des bases théoriques de ce domaine [M 4 126].
3.1 Diffraction conventionnelle en aire sélectionnée
Le faisceau incident parallèle illumine une large zone de l'échantillon, dont une partie est virtuellement délimitée par le diaphragme de sélection d'aire situé dans le plan image de la lentille objectif (figure 8). Le cliché de diffraction est ainsi moyenné, car la zone diffractante est étalé généralement sur environ 500 nm au minimum. Elle comprend des variations plus ou moins importantes d'épaisseur et d'écart à la position de Bragg (figure 16a ). On utilise très souvent ce mode de diffraction pour choisir ou rechercher une inclinaison du cristal par rapport au faisceau incident (le choix du vecteur de diffraction
, par exemple en diffraction à deux ondes), l'alignement du diaphragme de contraste, la détermination rapide des paramètres de maille ou l'évaluation des relations cristallographiques entre des précipités et la matrice.
La disposition des taches des clichés de diffraction conventionnels dépend...
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ÉTUDE ET PROPRIÉTÉS DES MÉTAUX
(1) - OTTEN (M.T.) - Alignment of the Transmission Electron Microscope. - Philips Electron Optics (1993).
(2) - WILLIAMS (D.B.), CARTER (C.B.) - Transmission Electron Microscopy. - Plenum Press, New York (1996).
(3) - ROSE (H.) - Correction of aberrations, a promising means for improving the spatial and energy resolution of energy-filtering electron microscopes. - Ultramicroscopy, 56, p. 11 (1994).
(4) - KAWASAKI (T.), YOSHIDA (T.), MATSUDA (T.), OSAKABE (N.), TONOMURA (A.), MATSUI (I.), KITAZAWA (K.) - Fine crystal lattice fringes observed using a transmission electron microscope with 1 MeV coherent electron waves. - Applied Physics Letters, 76, p. 1342-1344 (2000).
(5) - YAMAMOTO (K.), KAWAJIRI (I.), TANJI (T.), HIBINO (M.), HIRAYAMA (T.) - * - Journal of Electron Microscopy, 49(1), p. 31-39 (2000).
(6) - HAIDER (M.), ROSE (H.), UHLEMANN (S.), SCHWAN (E.),...
Diffraction des métaux et alliages. Interactions particules-matière,
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