Texture et anisotropie des matériaux polycristallins - Cartographie par diffraction de Kikuchi

INTRODUCTION

1 - MÉTHODES D’INVESTIGATION DES TEXTURES LOCALES

• 1.1 - Mesures optiques – Microscope à platine universelle
• 1.2 - Diffraction d’électrons

  • Quiz d'entraînement
  Figure 1 - Figures de pôles inverses, cartes d'orientation des cristaux et carte de qualité du diagramme (PQ) d'un joint de soudure laser Figure 2 - Exemples de diagrammes de TKP, BKP et ECP Figure 3 - Tache du faisceau, volume d'interaction, volume d'excitation et résolution spatiale (δ) en TKD et BKD

2 - MESURE DE L'ORIENTATION INDIVIDUELLE DES GRAINS ET MICROSCOPIE D'ORIENTATION

• 2.1 - Acquisition de diagrammes de transmission de Kikuchi
  Figure 4 - Chambre de projection d'un MET Philips 430 avec trois positions de caméras vidéo numériques pour l'acquisition de diagrammes de Kikuchi en transmission Figure 5 - Diffraction de Kikuchi au MEB
• 2.2 - Acquisition de diagrammes de rétrodiffusion de Kikuchi d'un système EBSD
  Figure 6 - Configuration d'un système EBSD habituel entièrement automatique avec balayage numérique du faisceau [22]
• 2.3 - Détecteur EBSD comme détecteur d'images multizone
  Figure 7 - Configuration schématique d'un détecteur EBSD dans le MEB Figure 8 - Surface de nickel recristallisé inclinée à 70° par rapport à l'horizontale Figure 9 - Cartes de microstructure d'un échantillon de soudure à l'argent après une gravure excessive par fraisage ionique (curtaining ou effet rideau dans la partie inférieure de l'échantillon)
• 2.4 - Évaluation des images de contraste de canalisation d’électrons
• 2.5 - Diagrammes de blocage des ions
  Figure 10 - Diagramme de blocage des ions du tungstène, produit avec des protons de 200 keV Figure 11 - Contraste d'orientation en fonction de l'inclinaison de l'échantillon dans un microscope ionique à balayage avec une source d'ions de champ en métal liquide

3 - PRÉPARATION DES ÉCHANTILLONS POUR LA MESURE D'ORIENTATIONS INDIVIDUELLES

• 3.1 - Techniques matérialographiques conventionnelles de préparation des échantillons
• 3.2 - Ablation et polissage par bombardement ionique
  Figure 12 - Configuration pour le sectionnement en série par FIB dans le MEB à double faisceau [91]
• 3.3 - Analyse 3D de la microstructure

  • Quiz d'entraînement
  Figure 13 - Représentation schématique de la reconstruction de la microstructure 3D à partir de sections sérielles consécutives

4 - CONCLUSION

5 - GLOSSAIRE

TEST DE VALIDATION