Présentation
Auteur(s)
-
Henri PAQUETON : Ingénieur civil des Mines ; docteur-ingénieur - Maître de Conférences au service des matériaux industriels du Conservatoire National des Arts et Métiers
-
Jacky RUSTE : Ingénieur INSA, docteur-ingénieur, ingénieur senior - EDF Recherches et Développement, Centre des Renardières, département Matériaux et Mécanique des Composants
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleINTRODUCTION
La microscopie électronique à balayage (MEB ou « Scanning Electron Microscopy » SEM) est une technique puissante d’observation de la topographie des surfaces. Elle est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l’impact d’un très fin pinceau d’électrons primaires qui balaye la surface observée et permet d’obtenir des images avec un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ.
Elle utilise, en complément, les autres interactions des électrons primaires avec l’échantillon : émergence des électrons rétrodiffusés, absorption des électrons primaires, ainsi que l’émission de photons X et parfois celle de photons proches du visible. Chacune de ces interactions est souvent significative de la topographie et/ou de la composition de la surface.
L’instrument permet de former un pinceau quasi parallèle, très fin (jusqu’à quelques nanomètres), d’électrons fortement accélérés par des tensions réglables de 0,1 à 30 kV, de le focaliser sur la zone à examiner et de la balayer progressivement. Des détecteurs appropriés, détecteurs d’électrons spécifiques (secondaires, rétrodiffusés, parfois absorbés...), complétés par des détecteurs de photons, permettent de recueillir des signaux significatifs lors du balayage de la surface et d’en former diverses images significatives.
La première partie du dossier Microscopie électronique à balayage rappelle sommairement les interactions sources d’imagerie et la constitution de l’instrument courant. La seconde partie précise la formation des images, les sources de contrastes, les récents développements de l’instrument et les diverses applications.
Le dossier « Microscopie électronique à balayage » se compose de trois parties :
-
[P 865v2] : Principe et équipement ;
-
Microscopie électronique à balayage- Images, applications et développements : Images et applications ;
-
: Pour en savoir plus.
Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
VERSIONS
- Version archivée 1 de juil. 1986 par Claude LE GRESSUS
- Version archivée 3 de mars 2013 par Jacky RUSTE
- Version courante de sept. 2024 par François BRISSET, Jacky RUSTE
DOI (Digital Object Identifier)
Présentation
Rappels sur les interactions électron-matièreArticle inclus dans l'offre
"Techniques d'analyse"
(288 articles)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
1. Généralités
L’observation du microrelief d’une surface est impossible à fort grandissement avec un microscope optique conventionnel (« photonique »). En effet, le pouvoir séparateur (ou résolution spatiale latérale) est limité à environ 0,2 µm et, au grossissement maximal de 1 500, la profondeur de champ est limitée à environ 1 µm. Tous deux dépendent de la longueur d’onde des rayonnements visibles et de l’ouverture numérique du faisceau et ne peuvent être améliorés. C’est pourquoi s’est développée l’idée de former une image d’un échantillon à partir :
-
soit d’un faisceau d’électrons suffisamment accélérés pour que la longueur d’onde associée soit inférieure au nanomètre (microscopie électronique en transmission, désignée généralement par le sigle anglo-saxon TEM : Transmission Electron Microscopy) ;
-
soit d’un pinceau d’électrons très fin presque parallèle qui balaye l’échantillon et permet à partir des électrons secondaires émis de former une image point par point (microscopie électronique par balayage, désignée généralement par le sigle anglo-saxon SEM : Scanning Electron Microscopy).
Le principe du microscope électronique à balayage, proposé par Manfred Van Ardenne et Max Knoll, a conduit à une première réalisation vers 1938, en Allemagne, à partir d’un microscope en transmission. Le premier microscope électronique à balayage « moderne » pour échantillons massifs a été conçu en 1942 aux États-Unis par Zvorykine et al. Grâce aux progrès successifs de l’optique électronique, de l’électronique, des techniques de visualisation et surtout de la détection des électrons de faible énergie, le premier instrument commercial (Cambridge Mark1) a été commercialisé en 1965. Actuellement en 2005, en Europe, une demi-douzaine de constructeurs proposent une large gamme d’appareils aux performances de résolution, de « versatilité » et de confort améliorés.
Couramment, un microscope électronique à balayage (désigné en France par le sigle MEB) permet d’observer la topographie de la surface d’un échantillon massif, en donnant l’impression d’une vision en relief avec :
-
un...
Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Généralités
Article inclus dans l'offre
"Techniques d'analyse"
(288 articles)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Techniques d'analyse"
(288 articles)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
