Article de référence | Réf : P1080 v2
Auteur(s) : Norbert BROLL
Date de publication : 10 avr. 1996
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Les matières cristallisées et en particulier les métaux sont tels qu’au moins l’une de leurs caractéristiques (propriétés mécaniques, expansion thermique, conductivité électrique, propriétés optiques...) est étroitement liée à leur orientation cristallographique. Lorsqu’ils sont polycristallins, les matériaux sont tels que les différents cristaux ne sont jamais orientés de façon absolument quelconque : certains de leurs axes sont en effet groupés de manière plus ou moins étroite autour de directions cristallographiques privilégiées. La connaissance précise de ces orientations préférentielles (textures) est très importante, en particulier sur le plan industriel. Certaines altérations parasites peuvent se développer au cours de leur élaboration, par exemple le chiffonnage des aciers inoxydables ferritiques. En revanche, dans certains cas, on peut être amené à favoriser volontairement la création de textures marquées : tôles orientées pour transformateurs permettant d’améliorer de façon substantielle leurs performances magnétiques, augmentation de l’emboutissabilité des tôles minces.
Qu’il s’agisse de profiter des phénomènes d’orientation préférentielle ou de combattre leurs effets préjudiciables, on constate qu’il est impérativement nécessaire de disposer de méthodes sûres permettant de les caractériser, aussi bien au cours des diverses étapes de l’élaboration que lors de la mise en forme des matériaux.
7.1 Représentation des textures cristallographiques
À chaque cristallite on peut associer un trièdre de référence Oxyz (Ox parallèle à la direction (100), Oy parallèle à la direction (010) et Oz parallèle à la direction (001)). Pour une tôle, le repère est constitué par les directions de laminage (DL), transverse (DT) et normale (DN) (figure 16).
Ces trois orientations permettent le passage du repère (
,
,
...
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(1) - GUINIER (A.) - Théorie et technique de la radiocristallographie. - 1956 Dunod, Paris.
(2) - CULLITY (B.D.) - Elements of X-Ray diffraction. - 1956 Addison-Wesley Publishing Company, Inc.
(3) - NEFF (H.) - Grundlagen und Auswertung des Rönt-gen-Feinstruktur-Analyse. - 1962 Oldenburg, München.
(4) - WILSON (A.J.C.) - Mathematical theory of X-Ray powder diffractometry. - 1963 Philips Technical Library, Eindhoven.
(5) - NUFFIELD (E.W.) - X-Ray diffraction methods. - 1966 John Wiley and Sons, New York.
(6) - KAELBLE (E.F.) - Handbook of X-Rays. - 1967 McGraw-Hill Book Company, New York.
(7)...
Résolution d’une structure cristalline par rayons X.
Détermination de structure cristalline par rayons X : méthodes numériques.
Caractérisation des surfaces et des matériaux stratifiés par rayons X.
Cristallographie géométrique.
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