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Auteur(s) : Norbert BROLL
Date de publication : 10 avr. 1996
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L’analyse quantitative en diffraction X prend toujours plus d’importance ; elle consiste à déterminer les concentrations de chacune des phases cristallines qui constituent le matériau.
Les difficultés rencontrées lors d’une analyse quantitative sont dues à la préparation de l’échantillon et à la maîtrise des effets de matrice, c’est-à-dire à l’effet d’absorption dû aux phases associées à celle dosée.
Pour un échantillon homogène ne présentant pas d’orientations préférentielles, l’intensité Ii d’une raie du diagramme correspondant à la phase i est directement proportionnelle à la part du volume Vi de la phase et inversement proportionnelle au coefficient d’absorption linéaire µ* de l’échantillon.
Après transformation de cette expression en fonction de la concentration et en tenant compte de la loi d’additivité des coefficients d’absorption massique, on obtient la relation suivante pour l’intensité relative dans le cas d’un échantillon binaire comportant les deux phases i et m :
avec :
La figure 11 représente la variation de l’intensité relative en fonction de la concentration pour les 3 cas possibles : absorption de...
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(2) - CULLITY (B.D.) - Elements of X-Ray diffraction. - 1956 Addison-Wesley Publishing Company, Inc.
(3) - NEFF (H.) - Grundlagen und Auswertung des Rönt-gen-Feinstruktur-Analyse. - 1962 Oldenburg, München.
(4) - WILSON (A.J.C.) - Mathematical theory of X-Ray powder diffractometry. - 1963 Philips Technical Library, Eindhoven.
(5) - NUFFIELD (E.W.) - X-Ray diffraction methods. - 1966 John Wiley and Sons, New York.
(6) - KAELBLE (E.F.) - Handbook of X-Rays. - 1967 McGraw-Hill Book Company, New York.
(7)...
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Détermination de structure cristalline par rayons X : méthodes numériques.
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