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Détecteurs de puissance hautes fréquences
Applications des MEMS à la métrologie électrique
R1002 v1 Article de référence

Détecteurs de puissance hautes fréquences
Applications des MEMS à la métrologie électrique

Auteur(s) : Antti MANNINEN, Anna-Maija KÄRKKÄINEN, Nadine PESONEN, Aarne OJA, Heikki SEPPÄ

Date de publication : 10 juin 2007 | Read in English

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RÉSUMÉ

Les dispositifs à base de microsystèmes (MEMS) représentent un grand potentiel pour la métrologie et l'instrumentation électrique de précision. De petites dimensions, de faible consommation et de coût réduit en production de masse, ils offrent de surcroît une bonne stabilité et un moindre bruit en 1/f. En pratique cependant, la stabilité des composants microsystèmes est souvent limitée par des effets de charge électrostatique aux surfaces et interfaces, ainsi que sur les couches diélectriques. les travaux actuels tentent de détourner ce problème.

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Auteur(s)

  • Antti MANNINEN : Groupe Manager de Métrologie électrique au Centre de Métrologie et d’Accréditation (MIKES), Espoo, Finland

  • Anna-Maija KÄRKKÄINEN : Chercheur expert à VTT Technical Research Centre of Finland, Espoo, Finland

  • Nadine PESONEN : Chercheur à VTT Technical Research Centre of Finland

  • Aarne OJA : Directeur de recherches à VTT Technical Research Centre of Finland

  • Heikki SEPPÄ : Professeur de recherches à VTT Technical Research Centre of Finland

INTRODUCTION

Les microsystèmes (en anglais « microelectromechanical systems MEMS ») peuvent offrir une alternative compétitive aux technologies classiques, pour les mesures électriques de précision. Le présent dossier fait le point sur les travaux effectués récemment dans le développement de solutions microsystèmes en métrologie électrique. Les références de tension, les convertisseurs tension efficace – continue (RMS-DC), les détecteurs de puissance hautes fréquences et les oscillateurs de référence sont étudiés. Le principe de fonctionnement de ces composants repose sur l’équilibre entre les forces électriques et les forces mécaniques de rappel dans les structures micro-usinées en silicium. Dans les voltmètres à tension efficace (RMS) et les convertisseurs RMS-DC, la relation quadratique qui lie la tension à la force entre les électrodes d’un condensateur à armatures mobiles est mise à profit ; le fonctionnement de la référence de tension à base de MEMS est fondé sur le phénomène de pull-in d’un condensateur à armatures mobiles.

Les avantages des dispositifs utilisant des microsystèmes par rapport aux solutions plus classiques sont les petites dimensions, la faible consommation d’énergie, le coût réduit de production de masse, la stabilité et le moindre bruit en 1/f. Les variations causées par les effets de charge électrostatique se sont révélées être un problème essentiel. Ce problème n’a pas encore été complètement résolu dans les applications en courant continu, mais peut être évité en utilisant un actionnement en courant alternatif et en compensant les potentiels continus internes du composant. De cette manière, une référence de tension alternative ayant une stabilité relative inférieure à 2 × 10–6 pour une période de mesure de trois semaines a été réalisée. Une bien meilleure stabilité a été démontrée avec un oscillateur de référence à base de microsystèmes : aucun changement de la fréquence de résonance n’a été observé à un niveau d’incertitude relative de 10–8 dans une mesure conduite pendant plus d’un mois.

Des composants à base de microsystèmes ont aussi été développés pour des mesures de puissance radiofréquences et micro-ondes, jusqu’à des fréquences d’environ 40 GHz. À l’inverse des détecteurs de puissance (wattmètres) hautes fréquences classiques, qui mesurent la puissance absorbée, les dispositifs microsystèmes mesurent la puissance transmise à travers le détecteur.

Ce texte a été traduit de l’anglais par Anne-Marie GAULIER.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r1002

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4. Détecteurs de puissance hautes fréquences

La détection de puissance est un secteur important des applications et des technologies de mesures hautes fréquences (HF). Les wattmètres existants sont conçus pour être utilisés, dans des applications de test et mesure, comme instrument d’extrémité de la ligne de mesure, car ils utilisent un capteur terminal absorbeur de puissance. Il existe trois types de capteurs commercialisés pour les mesures de puissance radiofréquences et micro-ondes : les thermistances, les détecteurs à thermocouples et les détecteurs à diodes. Les thermistances et les thermocouples sont basés sur la conversion en chaleur de la puissance HF et sur la mesure de température. Dans les détecteurs à diodes, la mesure de puissance est fondée sur les caractéristiques courant-tension non linéaires de diodes Schottky rapides ; aux basses puissances, les diodes répondent à la valeur efficace du signal et produisent une sortie continue proportionnelle à la puissance HF appliquée. Les thermistances sont largement utilisées comme étalons de transfert de puissance dans les laboratoires d’étalonnage, mais dans beaucoup d’autres applications elles ont été remplacées par les thermocouples, plus sensibles. Les détecteurs à diodes sont rapides et offrent des possibilités de mesure à des niveaux de puissance inférieurs à la limite de détection des capteurs thermiques, jusqu’à environ –70 dBm (100 pW), mais ces détecteurs à diodes ne sont pas linéaires à des puissances supérieures à –20 dBm environ (10 µW).

La technologie des microsystèmes offre une nouvelle alternative aux mesures de puissance hautes fréquences. Le principe de mesure est le même que pour les convertisseurs basses fréquences RMS-DC (cf. § 3.3). En principe, le même capteur peut être employé pour les mesures de puissance dans un vaste domaine de fréquences, de moins de 10 kHz à plus de 40 GHz. Par opposition aux détecteurs de puissance...

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - SEPPÄ (H.), KYYNÄRÄINEN (J.), OJA (A.) -   Microelectromechanical Systems in Electrical Metrology  -  . IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, pp. 440-444 (2001).

  • (2) - WOLFFENBUTTEL (R.F.), VAN MULLEM (C.J.) -   The Relationship Between Microsystem Technology and Metrology  -  . IEEE Trans. Instrum. Meas. 50, pp. 1469-1474 (2001).

  • (3) - VAN DRIEËNHUIZEN (B.P.), WOLFFENBUTTEL (R.F.) -   Integrated Micromachined Electrostatic True RMS-to-DC Converter  -  . IEEE Trans. Instrum. Meas. 44, pp. 370-373 (1995).

  • (4) - SUHONEN (M.), SEPPÄ (H.), OJA (A.S.), HEINILÄ (M.), NÄKKI (I.) -   AC and DC Voltage Standards Based on Silicon Micromechanics  -  . CPEM 98 Digests, Washington DC, pp. 23-24 (1998).

  • (5) - VAN DRIEËNHUIZEN (B.P.) -   Integrated Electrostatic RMS-to-DC Converter  -  . Ph.D. Thesis, Delft University (1996).

  • (6) - DE GRAAF (G.), BARTEK (M.), XIAO...

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