Présentation
EnglishRÉSUMÉ
La fréquence d'un signal est la mesure du nombre d'oscillations pendant une unité de temps. Mais en pratique, les signaux n’ont pas de fréquence stable et constante, ce qui rend l’approche de la mesure temps-fréquence complexe. Cet article a pour objet la présentation des compteurs travaillant en haute fréquence (supérieure à 300 MHz), ainsi que les mesures de bruit de phase. Ainsi, sont traitées les mesures de fréquence micro-ondes qui nécessitent de faire appel à des formes de conversion abaisseuse de fréquences. Ensuite, sont présentées les différentes techniques qui permettent de caractériser un signal dans le domaine fréquentiel.
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleAuteur(s)
-
Fabrice STHAL : Professeur des Universités à l'ENSMM - Institut FEMTO-ST, département Temps-Fréquence, Besançon
-
Enrico RUBIOLA : Professeur des Universités à l'UFC - Institut FEMTO-ST, département Temps-Fréquence, Besançon
INTRODUCTION
Dans un premier dossier [R 686] sont présentés les principes de comptage ainsi que les compteurs de base utilisés dans le domaine temporel. Les techniques d’amélioration de la résolution pour obtenir des appareils de mesure plus précis sont abordées dans un second dossier [R 687].
Dans ce dossier [R 688], nous nous concentrons sur les compteurs travaillant sur les fréquences supérieures à 300 MHz, ainsi que sur les mesures de bruit de phase.
Après avoir passé en revue les différents principes des compteurs, il est nécessaire d'apporter des compléments dans le cas des compteurs micro-ondes. En effet, les limites des composants électroniques nécessitent différentes techniques pour ramener les mesures de fréquence micro-ondes dans le domaine usuel. Elles sont décrites dans notre premier paragraphe.
La dualité temps-fréquence fait qu'il peut être intéressant de caractériser un signal non pas dans le domaine temporel mais dans le domaine fréquentiel. Les différentes techniques sont abordées dans le deuxième paragraphe.
Il existe aujourd'hui des appareils à techniques numériques très compacts et performants capables de faire les deux caractérisations. C'est l'objet de notre dernier paragraphe.
DOI (Digital Object Identifier)
Cet article fait partie de l’offre
Mesures et tests électroniques
(78 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Présentation
Cet article fait partie de l’offre
Mesures et tests électroniques
(78 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - VERNOTTE (F.) - Stabilité temporelle et fréquentielle des oscillateurs : modèles - [R 680], Mesures et test électroniques (2006).
-
(2) - VERNOTTE (F.) - Stabilité temporelle et fréquentielle des oscillateurs : outils d’analyse - [R 681], Mesures et test électroniques (2006).
-
(3) - GIORDANO (V.), RUBIOLA (E.) - Synthèse de fréquence - [E 330], Électronique (2002).
-
(4) - GIORDANO (V.) - Génération de fréquence - [R 682], Mesures et test électroniques (2007).
-
(5) - DUBUS (J.P.) - Fonction comptage des appareils : Bascules et compteurs - Mesures et contrôle (1998).
-
(6) - CHRONOS - La mesure de la fréquence des oscillateurs - Masson, 348 p (1991).
- ...
ANNEXES
1 Constructeurs et Fournisseurs
Aeroflex
Agilent Technologies
Anritsu Corporation
B&K Precision Corporation
Fluke Corporation
Pendulum Instruments AB
http://www.pendulum-instruments.com
M/A-COM
Mini-circuits
Stanford Research Systems
Symmetricom
HAUT DE PAGECet article fait partie de l’offre
Mesures et tests électroniques
(78 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive