Article précédent
Holographie optique Interférométrie holographique| Réf : R6331 v1
Auteur(s) : Paul SMIGIELSKI
Date de publication : 10 mars 2001
Article suivant
Caractérisations électro-optiques des détecteurs plans focaux IRQue contient cette offre ? Une offre 100% en ligne
Une base complète et actualisée d'articles validés par des comités scientifiques
Service de Questions aux experts
et outils pratiques
Quitter la lecture facile
L’objet est éclairé en lumière laser parallèle de façon symétrique (figure 6). Un objectif photographique L forme de l’objet une image sur un support photosensible H (film ou plaque photographique, caméra CCD, le plus souvent) .
Si l’on ne considère que l’éclairage 1, on observe un speckle déterminé. Avec l’éclairage 2 seul, on observe un autre speckle.
Si on éclaire l’objet simultanément avec les deux éclairages, les deux figures de speckle interfèrent. Elles sont superposées à la surface de l’objet en l’absence de déplacement. En présence d’un déplacement dans le plan Δx, les deux figures de speckle sur l’objet se décalent de la même quantité. Si ce déplacement Δx est inférieur à la dimension latérale s du grain de speckle rapporté dans le plan objet, les grains de speckle de chaque figure sont encore partiellement superposés et interfèrent. La différence de chemin optique provoquée par ce décalage Δx a pour valeur 2 Δx sin θ.
Il y a maximum de lumière lorsque la phase est égale à un nombre entier de fois 2 π et un minimum pour un nombre impair de fois π :
ou bien :
Les franges d’interférence brillantes sont donc caractérisées par la relation :
avec :
Vous êtes abonné à cette offre ?
Connectez-vous !
Vous souhaitez découvrir cette offre ?
Cet article est inclus dans l'offre :
MESURES MÉCANIQUES ET DIMENSIONNELLES
(1) - JACQUOT (P.) - Photographie de speckles : exemples tirés de l’analyse de déformation de corps solides - . Cours de l’Association Vaudoise des Chercheurs en Physique VCP, Lasers et Applications Industrielles. Presses Polytechniques Romandes (1982).
(2) - ARCHBOLD (E.), BURCH (J.M.), ENNOS (A.E.) - Recording of in-plane surface displacement by double exposure speckle photography - . Optica Acta 17, p. 883 (1970).
(3) - LEENDERTZ (J.A.) - Interferometric displacement measurement on scattering surfaces utilizing speckle effect - . J. Phys. E : Sci. Inst. 3, p. 214, (1970).
(4) - BUTTERS (J.N.), LEENDERTZ (J.A.) - A double exposure technique for speckle pattern interferometry - . J. Phys. E : Sci. Inst. 4, p. 277 (1971).
(5) - LEENDERTZ (J.A), BUTTERS (J.N) - An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments - . J. Phys. E : 6, p. 1107 (1973).
...
DÉTAIL DE L'ABONNEMENT :
TOUS LES ARTICLES DE VOTRE RESSOURCE DOCUMENTAIRE
Accès aux :
Articles et leurs mises à jour
Nouveautés
Archives
Formats :
HTML illimité
Versions PDF
Site responsive (mobile)
Info parution :
Toutes les nouveautés de vos ressources documentaires par email
DES SERVICES ET OUTILS PRATIQUES
Votre site est 100% responsive, compatible PC, mobiles et tablettes.
FORMULES
| Formule monoposte | Autres formules | |
|---|---|---|
| Ressources documentaires | ||
| Consultation HTML des articles | Illimitée | Illimitée |
| Téléchargement des versions PDF | 5 / jour | Selon devis |
| Accès aux archives | Oui | Oui |
| Info parution | Oui | Oui |
| Services inclus | ||
| Questions aux experts (1) | 4 / an | Jusqu'à 12 par an |
| Articles Découverte | 5 / an | Jusqu'à 7 par an |
| Dictionnaire technique multilingue | Oui | Oui |
|
(1) Non disponible pour les lycées, les établissements d’enseignement supérieur et autres organismes de formation. |
||
| AJOUTER AU PANIER | DEMANDER UN DEVIS | |
