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Holographie optique Interférométrie holographique| Réf : R6331 v1
Auteur(s) : Paul SMIGIELSKI
Date de publication : 10 mars 2001
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L’objet est éclairé en lumière laser parallèle de façon symétrique (figure 6). Un objectif photographique L forme de l’objet une image sur un support photosensible H (film ou plaque photographique, caméra CCD, le plus souvent) .
Si l’on ne considère que l’éclairage 1, on observe un speckle déterminé. Avec l’éclairage 2 seul, on observe un autre speckle.
Si on éclaire l’objet simultanément avec les deux éclairages, les deux figures de speckle interfèrent. Elles sont superposées à la surface de l’objet en l’absence de déplacement. En présence d’un déplacement dans le plan Δx, les deux figures de speckle sur l’objet se décalent de la même quantité. Si ce déplacement Δx est inférieur à la dimension latérale s du grain de speckle rapporté dans le plan objet, les grains de speckle de chaque figure sont encore partiellement superposés et interfèrent. La différence de chemin optique provoquée par ce décalage Δx a pour valeur 2 Δx sin θ.
Il y a maximum de lumière lorsque la phase est égale à un nombre entier de fois 2 π et un minimum pour un nombre impair de fois π :
ou bien :
Les franges d’interférence brillantes sont donc caractérisées par la relation :
avec :
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(1) - JACQUOT (P.) - Photographie de speckles : exemples tirés de l’analyse de déformation de corps solides - . Cours de l’Association Vaudoise des Chercheurs en Physique VCP, Lasers et Applications Industrielles. Presses Polytechniques Romandes (1982).
(2) - ARCHBOLD (E.), BURCH (J.M.), ENNOS (A.E.) - Recording of in-plane surface displacement by double exposure speckle photography - . Optica Acta 17, p. 883 (1970).
(3) - LEENDERTZ (J.A.) - Interferometric displacement measurement on scattering surfaces utilizing speckle effect - . J. Phys. E : Sci. Inst. 3, p. 214, (1970).
(4) - BUTTERS (J.N.), LEENDERTZ (J.A.) - A double exposure technique for speckle pattern interferometry - . J. Phys. E : Sci. Inst. 4, p. 277 (1971).
(5) - LEENDERTZ (J.A), BUTTERS (J.N) - An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments - . J. Phys. E : 6, p. 1107 (1973).
...
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2 - INTERFÉROMÉTRIE DE SPECKLE : MESURE DES DÉPLACEMENTS DANS LE PLAN
2.1 - Principe
2.2 - Fonctionnement en double exposition avec mesure quantitative des déplacements dans le plan
3 - INTERFÉROMÉTRIE DE SPECKLE À DÉDOUBLEMENT LATÉRAL OU « SHEAROGRAPHIE »
3.1 - Principe
3.2 - Application au contrôle non destructif
4 - INTERFÉROMÉTRIE DE SPECKLE ÉLECTRONIQUE OU « TV-HOLOGRAPHIE »
4.1 - Principe
4.2 - Application : mesure des déplacements tridimensionnels
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