Cet article traite des procédés de dépôt sélectif (
Area Selective
Deposition
, ASD) et des solutions techniques qui permettent de
déposer un matériau uniquement sur certaines zones d’un substrat,
sans étape de lithographie et de gravure. Le principe fondamental
de l’ASD repose sur un contraste de réactivité de surface pour que
la croissance d’un matériau ait lieu là où elle est souhaitée, et
soit empêchée ailleurs. Dans le contexte de l’ultra-miniaturisation
des dispositifs de la microélectronique, l’
Atomic Layer Deposition
(ALD) joue un rôle central dans le développement de l’ASD.
Dans un premier temps, nous définissons la sélectivité inhérente
caractéristique de l’ALD, en examinant le délai de nucléation et les
mécanismes fondamentaux responsables de cette sélectivité (§
1
). Puis nous décrivons
les différentes approches permettant d’augmenter cette sélectivité
(§
2
) :
– activation sélective des zones de croissance, par exemple
par des traitements plasma ou chimiques dédiés, favorisant la nucléation
et la croissance du matériau déposé ;
– inhibition sélective des zones de non-croissance par passivation
chimique retardant ou bloquant la nucléation, résultant de l’utilisation
de monocouches auto-assemblées, d’inhibiteurs moléculaires ou de traitements
chimiques ;
– définition de super-cycles de type ABC combinant au choix
inhibition, passivation, nettoyage sélectif et étape de réactivation
de surface, permettant d’entretenir la sélectivité d’un procédé ALD
au cours d’un dépôt....