L’article [E 2 460] intitulé « Test des circuits intégrés numériques – Notions de base et évolutions » introduit les principaux concepts du domaine. Cet article constitue la deuxième partie d'un ensemble consacré aux tests des circuits intégrés numériques, il s’intéresse à la phase de conception du circuit intégré, étape dans laquelle il est désormais primordial de prendre en compte sa testabilité en production. Ainsi, grâce à l’utilisation de ces techniques de conception, si un défaut apparaît à la fabrication, il peut être détecté au moment du test, et le circuit défectueux est alors éliminé ou réparé.
Après avoir défini les critères de testabilité d’un circuit, nous explorons les différentes techniques architecturales pouvant être intégrées pendant la conception, que ce soit pour des blocs numériques simples ou pour des systèmes intégrés complexes. Les principaux standards utilisés dans l’industrie sont brièvement présentés. Pour plus d’information, le lecteur pourra trouver les liens vers les standards cités dans l’annexe bibliographique. Nous introduisons aussi les techniques de base à employer pour réaliser un test en ligne, c’est-à-dire un test qui a lieu pendant l’exécution de l’application. Les logiciels de Conception Assistée par Ordinateur (CAO) prennent en compte la testabilité des circuits, leurs caractéristiques sont détaillées.
Nous verrons que les techniques proposées introduisent un surcoût en termes de surface de silicium et de consommation et entraînent une légère réduction des performances. Cependant, ces techniques et le surcoût induit sont incontournables pour garantir à l’utilisateur un niveau minimal de qualité et de fiabilité. Tout circuit ou tout système intégré produits de nos jours embarque une ou plusieurs des solutions citées dans cet article.
Le lecteur trouvera en fin d'article un glossaire des termes utilisés.