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Techniques de mesures sous haute pression| Réf : R740 v1
Auteur(s) : René PAYAT
Date de publication : 10 avr. 1994
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D’une façon générale, il n’existe pas de technique unique universellement utilisée pour le durcissement de l’électronique.
Malgré les expériences acquises originellement dans le domaine militaire (premier domaine historiquement concerné), le durcissement est toujours un cas d’espèce, et l’on doit parler plutôt de moyens adaptés à chaque application, même s’il existe des démarches de base. Les compensations possibles et prévisibles pour des applications analogiques n’ont pas forcément d’intérêt dans les domaines exclusivement logiques ou numériques, et réciproquement.
La conception d’une fonction durcie se fait par approches successives :
définition précise des performances de l’électronique ;
établissement des critères de défaillance (point très important) ;
connaissance du milieu radiatif et autres contraintes associées ;
choix de la technologie la mieux adaptée (et tests de validation) tenant compte des critères de défauts ramenés au niveau des composants, puis des fonctions, des impératifs de pérennité, de coût, d’approvisionnement, etc. Il faudra payer très cher des projets ambitieux, sachant qu’un composant caractérisé « durci », lorsqu’il existe, peut être d’un coût allant de cent à mille fois celui d’un composant standard ;
optimisation et reconfiguration de parties des fonctions de mesures ou de contrôles, avec des composants standards les plus tolérants possibles, en recherchant de préférence une simplification et une plus grande « rusticité », faisant appel à la créativité du circuiteur (encadré 1) ;
recherche des procédés de protections locales, ou des modes d’utilisation favorables.
Nous citerons ici un article du journal CEA- Technologie (juillet-août 1993), qui montre comment l’astuce et l’imagination permettent de résoudre une grande part du problème de tenue d’un type d’installation en milieu nucléaire très agressif, et également d’en simplifier les interventions en...
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(1) - CAREL (C.) - Phénomènes généraux liés aux contextes radiatifs. - Nuclétudes S.A. Conférences RADECS (1989).
(2) - GAILLARD (R.) - Effets transitoires des rayonnements nucléaires. - Nuclétudes S.A. Conférence RADECS (1989).
(3) - LERAY (J.-L.) - Effets physiques de base. - CEA-DAM : Conférence RADECS (1989).
(4) - ROUMEGUÈRE (M.) - Interactions neutrons-silicium. - CEA-DAM : Conférence RADECS (1989).
(5) - CHENION (J.), GAUSSENS (G.) - Influence du vieillissement des polymères à très bas débit de dose. - Rapport d’essai No 344f, Institut de protection et de sureté nucléaire. Département d’analyse de sureté.
(6) - PIGNERET (J.) - Tenue des liaisons optiques en ambiance nucléaire. - ...
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