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RMN large bande des noyaux quadripolaires en phase solide : exemple de strontium-87Article de référence | Réf : IN224 v1
Auteur(s) : Alexandre DAZZI, Ariane DENISET-BESSEAU
Date de publication : 10 juil. 2019
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Historiquement, la technique a d’abord été utilisée pour des applications en microbiologie et biologie cellulaire, pour détecter à l’échelle subcellulaire des entités exogènes ou endogènes . Sa commercialisation, en 2011, a permis de démocratiser la technique et d’élargir les domaines d’application. La science des matériaux (notamment polymères) est devenue la première utilisatrice, dans l’industrie comme l’académique. C’est, en effet, un domaine très demandeur en techniques analytiques novatrices pour identifier et cartographier la répartition des molécules d’intérêt ou structurantes dans les matériaux. Or, l’atout majeur de la technique réside dans sa capacité à analyser topographiquement et chimiquement de larges zones (jusqu’à 100 µm) avec une résolution sub-micrométrique. Elle permet de travailler sur un échantillon massif ou sur des coupes fines sans modification de surface et sans utilisation de marqueur ni de contrastant. Elle permet également d’évaluer rapidement la répartition des composants principaux d’un polymère, de repérer des changements de phase au sein de ce même matériau, des éventuelles dégradations, des hétérogénéités et des processus de désorption et/ou de diffusion d’adjuvants qui pourraient apparaître à la surface du matériau. Les applications ne se limitent pas aux matériaux organiques. Il est également possible de spécifier des hétérogénéités de composition ou de structure dans des matériaux inorganiques ...
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(2) - REDDY (R.K.), WALSH (M.J.), SCHULMERICH (M.V.), CARNEY (P.S.), BHARGAVA (R.) - High-Definition Infrared Spectroscopic Imaging. - Applied Spectroscopy, 67 (1), 93-105 (2013).
(3) - POHL (D.W.), DENK (W.), LANZ (M.) - Optical stethoscopy : Image recording with resolution λ/20. - Applied Physics Letters, 44 (7), 651-653 (1984).
(4) - BINNIG (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) - Atomic Force Microscope. - Physical Review Letters, 56 (9), 930-933 (1986).
(5) - BINNIG (G.), ROHRER (H.), GERBER (C.), WEIBEL (E.) - Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy. - Physical Review Letters, 49 (1), 57-61 (1982).
...
Équipe AFM-IR du laboratoire de chimie physique, université Paris-Sud.
http://www.lcp.u-psud.fr/spip.php?article358
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US patents (2008/0283,755 ; 2009/0249,521 ; 2011/0283,428 ; 2012/0050,718)
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