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RMN large bande des noyaux quadripolaires en phase solide : exemple de strontium-87Article de référence | Réf : IN224 v1
Auteur(s) : Alexandre DAZZI, Ariane DENISET-BESSEAU
Date de publication : 10 juil. 2019
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Microscopie à force atomique, atomic force microscope
Technique de microscopie à sonde locale permettant d’étudier la surface d’un échantillon, qu’il soit conducteur ou non, simplement en détectant les forces d’interactions entre la pointe du microlévier (sonde) et la surface.
Spectroscopie infrarouge ; infrared spectroscopy
Technique d’analyse chimique sondant les vibrations moléculaires.
Spectromicroscopie infrarouge ; infrared spectromicroscopy
Technique couplant la microscopie et l’analyse chimique par spectroscopie infrarouge.
Nanospectroscopie infrarouge ; infrared nanospectroscopy
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(2) - REDDY (R.K.), WALSH (M.J.), SCHULMERICH (M.V.), CARNEY (P.S.), BHARGAVA (R.) - High-Definition Infrared Spectroscopic Imaging. - Applied Spectroscopy, 67 (1), 93-105 (2013).
(3) - POHL (D.W.), DENK (W.), LANZ (M.) - Optical stethoscopy : Image recording with resolution λ/20. - Applied Physics Letters, 44 (7), 651-653 (1984).
(4) - BINNIG (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) - Atomic Force Microscope. - Physical Review Letters, 56 (9), 930-933 (1986).
(5) - BINNIG (G.), ROHRER (H.), GERBER (C.), WEIBEL (E.) - Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy. - Physical Review Letters, 49 (1), 57-61 (1982).
...
Équipe AFM-IR du laboratoire de chimie physique, université Paris-Sud.
http://www.lcp.u-psud.fr/spip.php?article358
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US patents (2008/0283,755 ; 2009/0249,521 ; 2011/0283,428 ; 2012/0050,718)
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