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Microscopie à sonde localeArticle de référence | Réf : R1394 v1
Auteur(s) : Jean-Claude RIVOAL, Christian FRÉTIGNY
Date de publication : 10 juin 2005
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Fatigue des surfacesCet article fait partie de l’offre
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Dans cette brève exploration des applications de la microscopie à force atomique, nous avons illustré quelques-unes des possibilités offertes par cette technique qui a vu le jour depuis moins de vingt ans. La possibilité d’imager des surfaces avec une résolution, transversale et verticale, de l’ordre du nanomètre a conduit à une moisson de résultats originaux.
Ce développement technologique nous a permis de nous habituer à l’idée qu’une ingénierie peut être conduite à une échelle trop petite pour être vue à l’œil nu, tout en utilisant des principes (mécanique, électricité, hydraulique, optique, tribologie, magnétisme...) familiers dans le monde macroscopique. Les domaines d’utilisation sont variés : physique, chimie, biologie, etc. Le développement d’appareils commerciaux se poursuit en parallèle aux recherches exploratoires pour augmenter la capacité d’acquisition, dans un temps donné.
L’AFM réserve encore de nombreuses améliorations et perfectionnements et est une des clés du domaine stratégique des nanotechnologies.
Les besoins des industriels français des micro- et nanotechnologies dans des domaines aussi divers que l’électronique, les télécommunications, l’optique, la mécanique, la chimie, la biologie, la santé, l’environnement, les transports et les sources d’énergie ne cessent de croître. Des outils de mesure très performants, tels que les microscopes électroniques et à champ proche, existent mais l’absence de raccordement à l’étalon national de longueur constitue aujourd’hui un véritable verrou technologique pour les industriels confrontés à la fabrication en grand volume de micro- et nanosystèmes.
En France, le BNM-LNE a créé une unité nanométrologie, au sein de la division métrologie dimensionnelle. Cette unité est chargée de la conception et de la réalisation d’un nouvel instrument de mesure tridimensionnel totalement innovant. Il vise à développer une capacité de raccordement se traduisant, dans un premier temps, par la conception, la réalisation et la mise en service d’un nouvel instrument de mesure tridimensionnelle. Ce nouvel instrument a été intégré, au cours de l’année 2004, au sein des salles blanches du laboratoire de nanométrologie construit sur le site de Trappes du LNE. Pour la première...
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FROTTEMENT, USURE ET LUBRIFICATION
(1) - BINNING (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) - Atomic force microscope. - Phys. Rev. Lett., 56, 930-933 (1986).
(2) - MEYER (G.), AMER (N.) - « Novel approach to atomic force microscopy ». - Appl. Phys. Lett., 53 (24), 2400-2402 (1988).
(3) - DUCOURTIEUX (S.) - Microscopie optique en champ proche sans ouverture : développement d’un instrument et application à l’étude des nanostructures. - Thèse de doctorat, université Paris-6 (2001).
(4) - AIGOUY (L.), ANDRÉANI (F.X.), BOCCARA (A.C.), RIVOAL (J.-C.), PORTO (J.A.), CARMINATI (R.), GREFFET (J.J.), MÉGY (R.) - Near-field optical spectroscopy using an incoherent light source. - Appl. Phys. Lett., 76, 397-399 (2000).
(5) - WONG (S.S.), JOSELEVICH (E.), WOOLEY (A.T.), LI CHEUNG (C.), LIEBER (C.) - Covalently functionalized nanotubes as nanometre-sized probes in chemistry and biology. - Nature, 394, 52-55 (1998).
...
Thèses
ROUILLAT (M.-H.) - Caractérisation par microscopie à force atomique d’une puce ADN, de l’élaboration à l’hybridation. - Thèse de doctorat, École centrale de Lyon (2004).
CANETTA (E.) - Micromanipulation de cellules vivantes par spectrométrie AFM. - Thèse de doctorat, université Joseph-Fourier, Grenoble (2004).
EMMRICH (E.) - Études des interactions entre des nanoparticules d’or et des monocouches de dendrimères à terminaisons thiols. - Thèse de doctorat, université Paul-Sabatier, Toulouse (2004).
ZAPPONE (B.) - Films nanométriques de cristaux liquides étudiés par mesure de force SFA et AFM. - Thèse de doctorat, université de Bordeaux-I (2004).
NOËL (O.) - Phénomènes d’adhésion à l’échelle locale : une approche par AFM. - Thèse de doctorat, université de Haute-Alsace, Mulhouse (2003).
MUNFORD (M.L.) - Electrodeposiçao de nanoestruturas metalicas em silisio monocristalino. - Thèsee doctorat, université Pierre-et-MarieCurie, Paris (2002).
MERKOURAKIS (S.) - Étude par MET et AFM de la croissance de multicouches Cu/Co élaborées par électrodéposition. - Thèse de doctorat, université Pierre-et-Marie-Curie, Paris (2001).
DECOSSAS (S.) - Nanotribologie par microscopie à force atomique (AFM) sur des nanotubes de carbone. - Thèse de doctorat, université Joseph-Fourier, Grenoble (2001).
TROMAS (C.) - Étude par AFM et TEM des premiers stades de plasticité induits par un essai de nano-indentation sur une face (001) d’un monocristal d’oxyde de magnésium....
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