Article de référence | Réf : R1080 v4
Auteur(s) : Patrick POULICHET, Gilles AMENDOLA, Christophe DELABIE, Yves BLANCHARD
Date de publication : 10 juin 2009
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La nanoélectronique au service de la métrologie de l’ampèreCet article fait partie de l’offre
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Les amplificateurs opérationnels et les comparateurs sont définis, comme les autres semi-conducteurs, par leurs paramètres statiques, fonctionnels et dynamiques (tableau ).
Le dispositif de mesure de la figure est dédié à la mesure du gain en boucle ouverte de AOP. En effet, si le gain de l'amplificateur de mesure (Ampli) est supérieur à quelques 105 les entrées « + » et « – » sont au même potentiel (à quelques μV près). Alors :
Pour l'AOP :
On procède en deux étapes (mesure (a) et mesure (b)) et :
On peut également mesurer l'offset de l'amplificateur AOPx car lorsque V1 = 0 alors V+ est la tension d'offset recherchée. Le dispositif complet décrit sur la figure permet de faire évoluer l'environnement de l'amplificateur à mesurer pour différentes mesures à effectuer. On remarque également qu'il permet de régler les conditions de charge de l'amplificateur.
Amplificateurs à contre-réaction de courant
Les amplificateurs à contre-réaction en courant sont préférés aux amplificateurs à contre-réaction de tension pour leurs bandes passantes très élevées et pour leurs pentes de variation de la tension de sortie très supérieures. Leur principal inconvénient est une tension de décalage élevée. Le principe en est décrit sur la figure a.
La tension Vn sur l'entrée inverseuse est « forcée » à la valeur de celle de l'entrée non inverseuse Vp par un étage suiveur. La tension de sortie est liée au courant d'entrée par un gain transimpédance :
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