Article de référence | Réf : R1079 v1

Mesure des composants électroniques - Partie 2 : mesure des composants passifs

Auteur(s) : Patrick POULICHET, Gilles AMENDOLA, Christophe DELABIE, Yves BLANCHARD

Date de publication : 10 déc. 2008

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INTRODUCTION

Le présent dossier fait suite au dossier [R 1 078v2] et traite des mesures sur les composants passifs.

La plupart des caractéristiques électriques des composants électroniques dépendent de la fréquence à laquelle elles sont mesurées. Cette dépendance est liée à l'existence d'éléments parasites de type inductance ou capacité.

Comme nous l'avons vu dans le dossier Mesures des composants électroniques. Partie 1 [R 1 078v2], beaucoup de ces mesures peuvent se faire avec un appareil capable de mesurer l'impédance : pont automatique, mesure I-V ou RF I-V et analyseur de réseau. Ces appareils permettent, à partir d'un modèle choisi par l'utilisateur, de déterminer les valeurs de résistance, capacités et inductance collant le mieux à la mesure.

Ce texte est la nouvelle édition de l'article Mesure des composants électroniques, rédigé en 1993 par Jean-Claude GOURDON et Paul PRODHOMME, dont sont repris quelques extraits.

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De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r1079


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