Bibliographie & annexes
Présentation
Auteur(s)
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Régis LEVEUGLE : Ingénieur de l’École nationale supérieure d’électronique et de radioélectricité de Grenoble - (ENSERG) - Professeur à l’Institut national polytechnique de Grenoble (INPG) - Laboratoire des techniques de l’informatique et de la microélectronique pour l’architecture - d’ordinateurs (TIMA)
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Lire l’articleINTRODUCTION
Lans la première partie intitulée « Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs » Test des circuits intégrés numériques- Notions de base. Génération de vecteurs, les principaux concepts du domaine ont été introduits. Cette deuxième partie présente plus en détail différentes techniques pouvant être mises en œuvre, pendant la conception d’un circuit, pour faciliter son test en fin de fabrication ou dans l’équipement. Quelques techniques de base employées pour réaliser un test pendant l’exécution de l’application sont également introduites.
Cet article constitue la deuxième partie d’un ensemble consacré aux tests des circuits intégrés numériques :
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Test des circuits intégrés numériques – Notions de base. Génération de vecteurs ;
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Test des circuits intégrés numériques – Conception orientée testabilité [E 2 461] ;
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Test des circuits intégrés numériques – Pour en savoir plus [Doc. E 2 462].
Nous rappelons au lecteur qu’un glossaire des termes utilisés dans l’article est présenté dans la première partie de l’article ([E 2 460], encadré 1).
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VERSIONS
- Version courante de mai 2022 par Mounir BENABDENBI, Régis LEVEUGLE
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Exemples d’utilisation des techniques de DFT5. Outils CAO
Pour être envisageable, l’intégration de dispositifs de test se doit de ne pas pénaliser notablement le délai de mise sur le marché. La disponibilité d’outils de conception assistée par ordinateur (CAO) bien adaptés est donc indispensable pour réduire le temps de développement.
Il n’est pas possible de dresser ici un panorama complet de l’offre CAO. En effet, un panorama deviendrait vite obsolète compte tenu des évolutions très rapides aussi bien des techniques que des sociétés commercialisant les outils. Pour un tel panorama, le lecteur intéressé pourra se référer aux adresses indiquées à la rubrique « Pour en savoir plus ». L’objectif de cette section est plutôt d’identifier les principaux types d’outils commercialisés en 2002.
Il faut noter tout d’abord que la quasi-totalité des outils commerciaux se limitent au test hors ligne. Les tests couvrent classiquement les fautes de collage simple au niveau porte (cf. [E 2 460], § 2.2.1), et selon les cas peuvent prendre en compte les fautes de retard (cf. [E 2 460], § 2.2.6) ou les contraintes pour le test de courant ; rares sont les outils considérant d’autres modèles, sauf dans le cas de macrocellules (prise en compte par exemple des fautes de couplage dans les mémoires). Dans ce cadre limité, l’offre se renforce considérablement chaque année.
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Les outils d’évaluation de testabilité, d’ATPG et d’évaluation du taux de couverture (simulation de fautes) ont été les premiers disponibles et sont aujourd’hui très répandus. Tous les principaux fournisseurs de CAO proposent un, voire plusieurs outils dans ces catégories. De nombreux fournisseurs spécialisés dans la CAO pour le test existent également. Les différences entre les outils résident dans les modèles de fautes visés et dans le type d’algorithme employé. Par exemple, l’évaluation du taux de couverture peut être fondée sur une « vraie » simulation de fautes (simulation logique ou logico-temporelle du circuit en présence des différentes fautes du modèle)...
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