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Article de référence | Réf : M4145 v1
Auteur(s) : Nabila MALOUFI
Date de publication : 10 déc. 2021
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Battement du champ d'ondes de Bloch ; Beat pattern of the Bloch wave field
En théorie dynamique, dans l’approximation deux ondes et à l’incidence de Bragg, pour une famille donnée de plans cristallins, deux types d’ondes de Bloch de longueurs d’onde proches prédominent, produisant dans le cristal une oscillation d’intensité correspondant à un battement (de période spatiale ξ g) du champ d’ondes de Bloch (beat pattern of the Bloch wave field) avec la profondeur z. Ceci explique pourquoi l’image d’une dislocation inclinée par rapport à la surface du cristal ou celle d’un défaut d’empilement présente des oscillations d’intensité ou un contraste d’intensité oscillant selon z.
BSD (Back Scatter Detector) ; Détecteur d’électrons rétrodiffusés (BSE)
Détecteur annulaire à semiconducteur d’électrons rétrodiffusés formé de deux ou quatre quadrants monté ou inséré sous la pièce polaire ou lentille objectif du MEB.
Critères d’invisibilité ; Invisibility criteria
g.b = 0 et g.b × u = 0 où b est le vecteur de Burgers, u la ligne et g la condition de diffraction. Ces conditions sont applicables en ECCI dans un MEB comme en MET pour caractériser les défauts.
Cross-over ;
Section minimale du faisceau d’électrons (cross section) obtenue par convergence des électrons sous l’action des lentilles électromagnétiques.
ECCI (Electron Channeling Contrast Imaging) ; Imagerie par contraste de canalisation des électrons
Il s’agit de la technique. On peut également rencontrer les expressions « ECC image » ou « micrographie ECC » généralement utilisées pour éviter une répétition quand une image ou une micrographie obtenue en contraste de canalisation est décrite.
A-ECCI (Accurate ECCI)
Procédure utilisant pour le contrôle de l’orientation de l’échantillon des diagrammes de canalisation de résolution spatiale améliorée (HR-SACP) permettant de mener des expériences ECCI sur des grains fins ou des zones de surface réduite jusqu’à environ 500 nm de diamètre.
ECP (Electron Channelling Pattern) ;...
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(1) - COATES (D.G.) - Kikuchi-like reflection patterns obtained with the scanning electron microscope. - Phil. Mag., 16, p. 1179-1184 (1967).
(2) - BOOKER (G.R.), SHAW (A.M.B), WHELAN (M.J.), HIRSCH (P.B.) - Some comments on the interpretation of the ‘kikuchi-like reflection patterns’ observed by scanning electron microscopy. - Phil. Mag., 16, p. 1185-1191 (1967).
(3) - KRIAA (H.), GUITTON (A.), MALOUFI (N.) - Modeling dislocation contrasts obtained by accurate-electron channeling contrast imaging for characterizing deformation mechanisms in bulk materials. - Materials, 12, 10, p. 1587 (2019).
(4) - REIMER (L.) - Scanning Electron Microscopy. - Springer Verlag New York (1985).
(5) - KRIAA (H.), GUITTON (A.), MALOUFI (N.) - Fundamental and experimental aspects of diffraction for characterizing dislocations by electron channeling contrast imaging in scanning electron microscope. - Scientific reports, 7, p. 9742 (2017).
...
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