Caractérisation de solides cristallisés par diffraction X

1 - Principe de la diffraction des poudres

• 1.1 - Théorie de la diffraction des rayons X
• 1.2 - Direction du faisceau diffracté
• 1.3 - Intensité des raies diffractées

2 - Méthodes expérimentales de diffraction des poudres

• 2.1 - Chambres photographiques
  Figure 2 - Schéma d’une chambre Debye-Scherrer Figure 3 - Chambres photographiques
• 2.2 - Diffractomètres de poudres
  Figure 4 - Schéma d’un diffractomètre Figure 6 - Schéma des faisceaux point et trait Tableau 1
• 2.3 - Diffractométrie rapide
• 2.4 - Diffractomètres pour échantillons en faible quantité
• 2.5 - Préparation des échantillons
• 2.6 - Enregistrement et exploitation des diffractogrammes

3 - Identification des phases

• 3.1 - Description des fichiers
• 3.2 - Méthodes d’identification de phases
• 3.3 - Limites des méthodes de recherche de phases

4 - Analyse quantitative

• 4.1 - Effets de matrice
• 4.2 - Échantillons polymorphes
• 4.3 - Méthodes avec étalon

5 - Applications cristallographiques

• 5.1 - Indexation des diagrammes de poudres
• 5.2 - Détermination précise des paramètres du réseau cristallin
• 5.3 - Taille des cristallites et microcontraintes

6 - Mesure des contraintes résiduelles. Tensions internes

• 6.1 - Macrocontraintes et microdéformations
• 6.2 - Théorie
  Figure 13 - Détermination des contraintes résiduelles Figure 14 - Mesure de contraintes triaxiale et biaxiale
• 6.3 - Techniques expérimentales
• 6.4 - Applications

7 - Étude des orientations préférentielles

• 7.1 - Représentation des textures cristallographiques
  Figure 16 - Trièdre de référence des cristallites et d’une tôle laminée
• 7.2 - Fonction de distribution des orientations
• 7.3 - Figures de pôles directes
  Figure 18 - Principe de détermination d’une figure de pôles Figure 19 - Figure de pôles obtenue par la méthode en réflexion
• 7.4 - Figures de pôles inverses