Article

1 - LIAISON SÉRIE OU LIAISON PARALLÈLE

2 - COMMUNICATIONS SÉRIE

3 - COMMUNICATIONS PARALLÈLES

4 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : R530 v1

Interfaces de communication - Mise en œuvre des mesures automatiques

Auteur(s) : Lang TRAN TIEN

Date de publication : 10 avr. 1995

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

Auteur(s)

  • Lang TRAN TIEN : Professeur à l’École Spéciale de Mécanique et d’Électricité de Paris

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

INTRODUCTION

Dans une usine de production, l’échange de données entre plusieurs systèmes mis en jeu pour contrôler le bon fonctionnement de l’ensemble est devenu une nécessité.

Les communications entre les systèmes informatiques (ordinateurs, microprocesseurs, etc.) et le milieu technique à surveiller peuvent présenter une multitude de configurations dépendant de nombreux paramètres :

  • nature du signal à transmettre ;

  • destination du signal (stockage, traitement ou commande) ;

  • distance, fréquence de transmission, etc.

Parmi ces liaisons, les plus utilisées font l’objet d’une normalisation définissant un protocole précis concernant les communications entre ces systèmes.

L’objet de cet article est l’étude de ces liaisons : liaison série et liaison parallèle.

La liaison série permet, comme son nom l’indique, le transfert de données en série, véhiculées sur une ligne reliant deux appareils. En instrumentation, c’est la norme RS 232C qui est la plus utilisée ; elle occupera une place importante dans la suite de cet article.

La liaison parallèle est destinée à des vitesses de transfert élevées à courte distance entre plus de deux appareils. L’automatisation des chaînes de mesures a conduit à la création de nombreuses normes dont la plus importante est le bus IEEE-488, analysé dans la seconde partie de cet article.

Chaque type de liaison est réalisé à l’aide d’une carte d’interface ; on comprend plus aisément la correspondance des interfaces série et parallèle avec les liaisons.

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r530


Cet article fait partie de l’offre

Mesures et tests électroniques

(78 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 93% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Mesures et tests électroniques

(78 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Sommaire
Sommaire

1 Normalisation

HAUT DE PAGE

2 Références Bibliographiques

HP-IB Installation and theory of operators manuel. - Hewlett-Packard, avril 1980.

GRÉGOIRE (R.) - Bus IEEE. Appareils programmables et micro-ordinateurs. - Microsystèmes. ETSF (1984).

TERRASSON (J.L.) - Les périphériques des micro-ordinateurs. - Microsystèmes. ETSF (1985).

CHUBB (B.) - Build your own universal computer interface. - McGraw-Hill. Tab Books (1989).

DERENZO (S.E.) - Interfacing. A laboratory approach using the microcomputer for instrumentation and control. - Prentice Hall (1990).

GATES (S.C.) - BECKER (J.) - Laboratory Automation using the IBM PC. - Prentice Hall (1989).

KOTELLY (G.) - Personal instruments combine measurement sophistication with general purpose computer. - Power – EDN, 31 mars 1983.

TRAN TIEN (Lang) - Computerized instrumentation. - Wiley (1991).

WRATIL (P.) - SCHMIDT (R.) - Contrôle et mesure avec les PC. - Ed. Radio Dunod ed. (1993).

L’automatisation dans la mesure. - Revue Hewlett-Packard. 5953-8350 FR. 16,5 K 10.81W.

GPIB Instruments Selection Guide. - Tektronix (1982).

Systèmes d’interface pour instruments de mesure. - Enertec Schlumberger Instruments Catalogue.

TOMAS (O.) - SAUVEZON (R.) - Interfaçage par bus IEEE 488. - Électronique Industrielle no 121/01-03-1987.

IBM PC du laboratoire à l’industrie. - Dunod (1986).

SENEGAL (S.) - Interfaces et communications. - TLE Informatique no 492, mars 1984.

WEISSBERGER (A.J.) - Data communications. - Electronic Design, 12 juin 1979.

TILDEN (M.) - RAMIREZ (B.) - Understanding IEEE-488 basics simplifies system integration. - EDN, 9 juin 1982.

TEK...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 94% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Mesures et tests électroniques

(78 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS