Éthique et épistémologie des nanotechnologies – cartographie critique des approches existantes : Des partis pris | Techniques de l’Ingénieur

Article de référence | Réf : RE244 v1

Des partis pris
Éthique et épistémologie des nanotechnologies – cartographie critique des approches existantes

Auteur(s) : Sacha LOEVE, Xavier GUCHET

Date de publication : 10 janv. 2015