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Caractérisation de défauts lacunaires par annihilation de positonsArticle de référence | Réf : P2700 v3
Auteur(s) : Jean DOUCET, José BARUCHEL
Date de publication : 10 mars 2011
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Techniques de piégeage d’ionsCet article fait partie de l’offre
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La diversité des modes d'interaction photons-matière et la gamme très étendue en énergie du rayonnement synchrotron, qui s'étend de l'infrarouge aux rayons X, conduisent à une large palette de techniques analytiques. Ces techniques, qui explorent différents aspects des matériaux, fournissent donc des informations complémentaires pouvant guider les industriels, aussi bien lors des phases de recherche et développement de nouveaux produits que pour la mise au point des procédés de fabrication, le contrôle de qualité, le suivi de vieillissement et éventuellement, le recyclage. Elles peuvent être divisées en quatre groupes selon le type d'information qu'elles fournissent :
les techniques de spectroscopie IR, UV et X fournissent une information chimique, avec accès à la composition élémentaire, aux éléments-traces, au degré d'oxydation, aux fonctions et réactions chimiques ;
les techniques de diffusion/diffraction/réflexion fournissent une information structurale, avec accès aux architectures moléculaires et supramoléculaires, pour les matériaux cristallisés ou partiellement organisés ;
les techniques d'analyses électronique et magnétique fournissent une information sur les propriétés électronique et magnétique, avec mise en évidence, analyse et suivi des caractéristiques de la structure électronique et du comportement magnétique des matériaux ;
les techniques de radiographie/tomographie fournissent une information morphologique, avec visualisation en deux ou trois dimensions de détails très fins dans des structures complexes, notamment des phases, inclusions, porosités et des fissures ;
vue son importance toujours croissante, il convient également de considérer comme une famille à part l'utilisation en mode imagerie des techniques précédentes qui s'obtient en balayant l'échantillon avec un microfaisceau de façon à fournir une carte « image » de l'échantillon pour une propriété physico-chimique donnée de la matière.
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(1) - KOCH (E.E.) - Handbook on synchrotron radiation. - Vol. 1, Amsterdam, North Holland (1983).
(2) - * - Détecteurs.
(3) - NEWTON (M.A.) (a), YOTI (B.J.) (a), DENT (A.J.) (b), FIDDY (S.G.) (c), EVANS (J.) (a,b) - * - Chem. Commun., p. 2382-2383 (2004).
(4) - NAGAI (Y.), HARA (N.), DOHMAE (K.), IKEDA (Y.), TAKAGI (N.), TANABE (T.), GUILERA (G.), PASCARELLI (S.), NEWTON (M.A.), KUNO (O.), JIANG (H.), SHINJOH (H.), MATSUMOTO (S.) - * - Angew. Chem. Int., Éd., 47, p. 9303 (2008).
(5) - LUCHES (P.), BELLINI (V.), COLONNA (S.), Di GIUSTINO (L.), MANGHI (F.), VALERI (S.), BOSCHERINI (F.) - * - Physical Review Letters, 96, p. 106106 (2006).
(6) - * - MAONG many sites http://www.esrf.eu/Industry/sales/your-experiment/synchrotron-techniques#protein
...
http://www.synchrotron-soleil.fr
Le lecteur souhaitant obtenir des données techniques précises sur la machine et les sources de rayonnement pourra consulter les pages suivantes de l'ESRF et de SOLEIL :
http://www.esrf.eu/Accelerators/Performance/Insertion_Devices
http://www.synchrotron-soleil.fr/portal/page/portal/SourceAccelerateur/ParametresPrincipaux
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